烧写程序到STM32下,出现: Could not measure total IR len. TDO is constant high.

烧写程序到STM32下,出现: Could not measure total IR len. TDO is constant high.,第1张

出现 JLink Info: Could not measure total IR len TDO is constant high

很有可能的原因是。。。。你用的是4限制SWD接口,但是在keil的工程设置里忘记把jtag选回SWD,或者说你用的是cortex M0的片子,根本就不支持jtag

在keil的工程设置,jlink设置里把调试接口改成SWD就行了

首先确认一下,有俩种情况:

情况一:你的jlink VCC是输出模式,也就是说插上jlink后你的板子上的33V就有电了;如果是这种模式,那么jlink有可能烧坏,但是你叙述的说还可以识别说明jlink问题不大。

情况二:你的jlink VCC是检测模式,也就是说插上jlink后你的板子上的33V没有电,直到外部给板子上电jlink才能识别芯片,这种情况不会烧jlink,只是你的板子烧了。

以上就是关于烧写程序到STM32下,出现: Could not measure total IR len. TDO is constant high.全部的内容,包括:烧写程序到STM32下,出现: Could not measure total IR len. TDO is constant high.、用jlink调试stm32,结果不知道怎么回事板子正负极短路了, jlink会烧坏吗、等相关内容解答,如果想了解更多相关内容,可以关注我们,你们的支持是我们更新的动力!

欢迎分享,转载请注明来源:内存溢出

原文地址: http://outofmemory.cn/zz/10632176.html

(0)
打赏 微信扫一扫 微信扫一扫 支付宝扫一扫 支付宝扫一扫
上一篇 2023-05-10
下一篇 2023-05-10

发表评论

登录后才能评论

评论列表(0条)

保存