能确定是SD卡的干扰吗?不写SD卡是不是就没问题了?如果能确定有如下建议:1、改为4层板,布局上把SD卡移到DSP跟前,原因是你现在的两层板回流不完整。2、4层板的内层地做分割,分割成模拟部分和数字部分。3、降低SD卡的读写频率。4、在SD卡的电源口处加1NF和10NF的滤波电容。AD输入上加1NF的小电容。现在这个板子不建议你再使用。
采样率的单位:SPS是什么意思?
Hz是周期的倒数,也就是每秒钟的运行周期次数,因此单位是1/s。(1代表周期个数的单位)
Sps是采样率,是每秒钟采样点的数量,Sp代表采样点数。在采样时,1个Sample就是的采样的一个周期。
因此,两个单位在数值上应该是相等的,不同的话就是频率Hz可以是小数而采样率S/s一定是整数。
(1):每秒采样获得的点数,例:对a(t)采样,一秒获得了三个点a(1),a(2),a(3),采样率为3SPS,此时采样频率为3Hz。
(2):每秒采样获得的比特数,例:对a(t)采样,一秒获得了三个点a(1),a(2),a(3),每个点以12位二进制量化,采样率为312=36SPS,此时波特率为36bps。
采样速率
A/D转换器的采样速率是选择ADC的另一个重要的因素。为了降低频率混叠成分,提高能正确分析的谐波次数,需尽可能提高采样率。但是提高采样率又必需满足下列条件:
①AD具有较短的转换时间。
②AD具有较高的采样转换位数,否则两点之者的数据区分度不够。
③最重要的也是最关键的一点,软件最长程序流程的执行时间要求更短,须小于两次采样间隔时间,否则会产生数据阻塞和重叠。
采样速率的高低主要取决于ADC的转换时间。不同类型的转换器转换速度相差甚远。其中并行比较ADC的转换速度最高,逐次比较型ADC次之,间接ADC速度最慢。A/D转换器的分辨率与其转换速率是相互制约的,ADC的分辨率越高,其转换所需要的时间就越长,转换速率也就越低。
设计的装置检测信号正常为工频50Hz,每周波采集128个点,采样速率至少为50×128=64kSPS。综合考虑采样速度、精度要求、输入模拟信号的范围及输入信号的极性等方面,本装置最终选择16位逐次逼近型模数转换器AD7656。
1、霍尔传感器首先经过霍尔传感器将电压电流信号,转化成小的电流信号。
2、一般一介RC滤波,滤除由霍尔传感器等的杂波干扰。
3、经霍尔传感器采集的信号往往是小电流信号,需要经过放大后变成电压信号输入到单片机。
4、经过放大后的芯片需要经过AD芯片,如AD7656等,将模拟量转换成数字量,输入DSP。
5、经AD转换芯片转换的数字量输入单片机进行处理,完成ADC采样。
6、有时候ADC采样过来的信号,需要经过比较处理变化成0/1保护信号,此时就需要经过整流、比较等过程。
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