关于谱线轮廓介绍

[拼音]：puxian lunkuo

[外文]：line profile

谱线轮廓通常用来描述光谱线的能量随波长的相对分布。设Iv和Fv表示谱线内频率 v处的辐射强度和辐射流（见辐射转移理论），I捒、F捒表示同一频率处连续光谱的对应量。 rv=Fv/F捒或rv=Iv/I捒称为剩余强度。以Rv表示谱线内频率v处的深度，它与剩余强度rv之间的关系为Rv=1－rv。以rv为纵坐标，v为横坐标作图，所得的剩余强度rv随频率变化的曲线就是谱线轮廓（如图）。吸收线的谱线轮廓与连续光谱背景所包围的面积，即图中阴影部分是谱线内吸收的全部能量的一种量度，故称总吸收。它表示恒星光谱里吸收线的强弱，面积越大，吸收线就越强。也可以用一个面积相等的、高度为 1的矩形表示总吸收。这时矩形的宽度在数值上等于总吸收，故总吸收又有等值宽度（用Wv表示）之称。若图中的横坐标改用波长λ，则对应的剩余强度和等值宽度用rλ和Wλ表示。用有缝摄谱仪所得的谱线轮廓常为狭缝宽度和衍射现象所歪曲。假定谱线是无限窄的，观测到的却总是有一定宽度的谱线轮廓，这种轮廓称为仪器轮廓。实际观测到的谱线轮廓是仪器轮廓和真谱线轮廓的迭加。为了得到真谱线轮廓，必须在观测到的谱线轮廓中扣去仪器轮廓的影响。影响谱线轮廓的因素有辐射阻尼、多普勒效应、压力效应、恒星自转、恒星大气的膨胀和湍动等。