LED测试时出现电应力损伤的类型和原因

LED测试时出现电应力损伤的类型和原因

问：LED测试时出现电应力损伤的类型和原因

有时LED可能在测试过程中损坏，而工程师却没有注意到这种情况。在测试时须特别注意不要让LED过载。

有关LED测试的更多详情，请阅读以下内容:

如何测试LED

用数字万用表测量LED很轻松，但很多人忽视了这两点

测试工程师还应注意测试过程中的电应力损伤(即电气过载)。这主要有以下三种情况：

01电气过载( EOS )：

EOS威胁主要归咎于处理不当和/或测试夹具设计问题;

附近雷击和设备切换造成的浪涌，会在电力和数据线路上产生严重的瞬变能量。

02静电放电( ESD )：

接触ESD敏感(ESDS)物品的带电物体(包括人);

一个带电的ESDS器件以不同的电位接触地面或另一导电物体;

ESDS器件在暴露于静电场时接地。

LED厂商推荐了关于预防和管理ESD/EOS威胁的指南。IEC 61340-5和ANSI/ESD S20.20标准提供了在系统中组装LED组件时防止EOS和ESD损坏的相关指南。

03方向极化：

大多数LED可在正向偏压下发光，且通常不会在反向偏压下工作。LED由一个P-N结组成，如果高压浪涌以相反的方向通过器件，该P-N结可能会因电流过大而被破坏。

LED厂商通常建议在安装LED之前先使用齐纳二极管来进行系统测试。

审核编辑：汤梓红