自毁型手机试制完成:处理器芯片数秒熔化

自毁型手机试制完成:处理器芯片数秒熔化,第1张

间谍电影里常有手机自毁的桥段,比如特工在接收完秘密资料或者遭遇不测前就触发该机制,防止信息偷跑。据IEEE Spectrum报道,即将出版的《先进材料技术》杂志中将详细披露沙特阿卜杜拉国王科技大学的一项最新研究成果,他们成功开发了具有自毁机制的手机原型,目前已经可以成功将处理器芯片摧毁。

就实验模型的效果来看,过程还算温和。

研究人员称,自毁机制依赖于可膨胀聚合物层,后者的特性是,当被加热至高于80℃的温度时,其可以快速膨胀至其原始体积的约7倍。

触发聚合物膨胀的热来自加热器电极,功率由电池引导。如果释放500~600毫瓦,那么需要10~15秒,如果释放300毫瓦,则长达1分钟。由于可膨胀聚合物膨胀系数更大,并且使得位于聚合物顶部的薄硅引起足够的张力,从而简单地破裂然后断裂。

另外,研究人员考虑还比较严密,触发行为并不一定需要人手动激活,还可以借助GPS芯片甚至是向APP通信后输入密码完成。

现在,团队正在考虑将自毁的对象扩展到闪存、基带等部件上。

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原文地址: https://outofmemory.cn/dianzi/2542625.html

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