半导体的能带结构求助

半导体的能带结构求助,第1张

半导体能带理论

分析半导体能带理论,必须从能级,能带,禁带,价带,导带开始。因此分析如下:

能级(Enegy Level):在孤立原子中,原子核外的电子按照一定的壳层排列,每一壳层容纳一定数量的电子。每个壳层上的电子具有分立的能量值,也就是电子按能级分布。为简明起见,在表示能量高低的图上,用一条条高低不同的水平线表示电子的能级,此图称为电子能级图。能带(Enegy Band):晶体中大量的原子集合在一起,而且原子之间距离很近,以硅为例,每立方厘米的体积内有5×1022个原子,原子之间的最短距离为0.235nm。致使离原子核较远的壳层发生交叠,壳层交叠使电子不再局限于某个原子上,有可能转移到相邻原子的相似壳层上去,也可能从相邻原子运动到更远的原子壳层上去,这种现象称为电子的共有化。从而使本来处于同一能量状态的电子产生微小的能量差异,与此相对应的能级扩展为能带。 禁带(Forbidden Band):允许被电子占据的能带称为允许带,允许带之间的范围是不允许电子占据的,此范围称为禁带。原子壳层中的内层允许带总是被电子先占满,然后再占据能量更高的外面一层的允许带。被电子占满的允许带称为满带,每一个能级上都没有电子的能带称为空带。 价带(Valence Band):原子中最外层的电子称为价电子,与价电带。 导带(Conduction Band):价带以上能量最低的允许带称为导带。 导带的底能级表示为Ec,价带的顶能级表示为Ev,Ec与Ev之间的能量间隔称为禁带Eg。 半导体的导电作用是通过带电粒子的运动(形成电流)来实现的,这种电流的载体称为载流子。半导体中的载流子是带负电的电子和带正电的空穴。对于不同的材料,禁带宽度不同,导带中电子的数目也不同,从而有不同的导电性。例如,绝缘材料SiO2的Eg约为5.2eV,导带中电子极少,所以导电性不好,电阻率大于1012Ω·cm。半导体Si的Eg约为1.1eV,导带中有一定数目的电子,从而有一定的导电性,电阻率为10-3—1012Ω·cm。金属的导带与价带有一定程度的重合,Eg=0,价电子可以在金属中自由运动,所以导电性好,电阻率为10-6—10-3Ω·cm。

半导体掺杂之后会引入杂志能级,以目前主流的半导体Si进行掺杂为例:Si为4族元素,掺杂3族元素B,B元素电离后作为受主能级存在在半导体之中,形成P型半导体。此时Si元素为杂志提供了电子,则半导体中载流子为空穴。Si为4族元素,掺杂5族元素P,P元素电离后作为施主能级存在在半导体之中,形成N型半导体。此时Si元素为杂志提供了空穴,则半导体中载流子为电子。 掺杂后引入杂质能级(轻掺杂):P半导体的受主能级会在Ei 下方,即接近价带顶。N半导体的施主能级会在Ei上方,即接近导带底。Ei为能带中线。一般来说,掺杂过后Eg(带隙)不会发生较大改变。Eg = Ec-Ev,Ec为导带底、Ev为价带顶。如果可以看态密度图的话,可以将态密度图与能带图相对应,找出能级贡献量较大的离子,如果该能级为Si提供,则可以判断为原能级,如果能级为P、B提供则为引入的杂志能级。 希望能帮到你,谢谢


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