原子力显微镜（AFM）的原理

原子力显微镜（AFM）的基本原理是：将一个对微弱力极敏感的微悬臂一端固定，另一端有一微小的针尖，针尖与样品表面轻轻接触，由于针尖尖端原子与样品表面原子间存在极微弱的排斥力，通过在扫描时控制这种力的恒定，带有针尖的微悬臂将对应于针尖与样品表面原子间作用力的等位面而在垂直于样品的表面方向起伏运动。选择原子力显微镜推荐Park NX-Hybrid WLI。Park NX-Hybrid WLI是有史以来第一款具有内置WLI轮廓仪的AFM，用于半导体和相关制造质量保证。例如半导体前端、后端到高级封装的过程控制，以及研发计量。它适用于那些需要在大面积上进行高吞吐量测量的设备，这些设备可以缩小到具有亚纳米分辨率和超高精度的纳米级区域。

NX-Hybrid WLI 的优势：

1、Park WLI系统

Park WLI支持WLI和PSI模式（PSI模式由电动过滤器变换器 支持）可用物镜放大倍数：2.5X 、10X、20X、50X、100X；两个物镜可由电动线性换镜器自动更换。

2、WLI光学干涉测量

扫描 Mirau 物镜高度时，由干涉引起的光强变化可以计算每个像素处的样品表面高度；白光干涉测量 (WLI) 和相移干涉测量 (PSI) 是两种常用的表面表征技术。

想要了解更多原子力显微镜的相关信息，推荐咨询Park原子力显微镜。Park原子力显微镜具有综合性的扫描模式，因此可以准确有效地收集各种数据类型；从使用世界上唯一的真非接触模式用来保持探针的尖锐度和样品的完整性，到先进的磁力显微镜， Park在原子力显微镜领域为客户提供最具创新、精确的模式。

韩国Park原子力显微镜测得精确，值得信赖。Park独有的技术是将XY和Z扫描器分离，实现探针与样品间的真正非接触，避免形貌扫描过程中因探针磨损带来的图像失真，快速成像还可以大大提高测试效率，降低实验测试成本。其中，Park NX10为客户带来最高纳米级分辨率的数据，值得信赖、使用和拥有。无论是从样品设定还是到全扫描成像、测量与分析，Park NX10都可以在保证客户专注于创新研究工作的同时提供高精度的数据。

Park NX10的创新研究特征及优势：

1、Park SmartScan 智能模式

在SmartScan Auto独有的智能模式下，系统自动执行所有必要的成像 *** 作，同时智能选择最佳的图像质量和扫描速度。这是通过Park的专利技术才得以实现的。它不仅可以为您节省时间和金钱，还可以给你您带来最好的研究结果。

2、Park 消除串扰技术

Park NX10为您带来最高纳米级分辨率的数据，值得您信赖、使用和拥有。它是全球唯一一个真正非接触式原子力显微镜，在延长探针使用寿命的同时，还能良好地保护您的样品不受损坏。可弯曲的独立XY扫描仪和Z扫描仪可带来无与伦比的精确度和分辨率。

想要了解原子力显微镜的相关信息，推荐咨询Park原子力显微镜。Park成立30多年来，始终致力于纳米领域的形貌&力学测量和半导体先进制成工艺的计量的新技术新产品的开发。Park独有的技术是将XY和Z扫描器分离，实现探针与样品间的真正非接触，避免形貌扫描过程中因探针磨损带来的图像失真，快速成像还可以大大提高测试效率，降低实验测试成本。

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