我说说我的想法
谈失效 肯定是器件制造这个层面,时间轴上分为早期失效 偶然失效和 老化失效 ,可以理解的是 ,前后两个原因是失效率比较高的 所以图形应该是个盆状
早期失效说的是设计和工艺之结构存在缺陷,导致的defect.
具体到半导体技术嘛...例如参杂的强度 光刻和封装的缺陷都可能造成电子产品 或集成电路的失效 即infant mortality
开启了图层的轮廓模式。flash软件时间轴小格变成一长条,是开启了图层的轮廓模式,可以到时间轴图层设置区选择了轮廓显示点击关闭即可。
flash是存储芯片的一种,通过特定的程序可以修改里面的数据。FLASH在电子以及半导体领域内往往表示FlashMemory的意思。
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