TEM能拍到碳颗粒么?

可以。TEM又叫透射电子显微镜，其具有较高的分辨率，是半导体失效分析领域最常用的仪器之一，是可以看见并拍到碳颗粒的。透射电子显微镜(TEM)可以对碳颗粒的微观形态和基本碳粒子的微观结构进行观测。

SEM：材料的表面形貌，形貌特征。配合EDX可以获得材料的元素组成信息TEM：材料的表面形貌，结晶性。配合EDX可以获得材料的元素组成FTIR：主要用于测试高分子有机材料，确定不同高分子键的存在，确定材料的结构。如单键，双键等等Raman：通过测定转动能及和振动能及，用来测定材料的结构。CV：CV曲线可以测试得到很多信息，比如所需电沉积电压，电流，以及半导体行业可以得到直流偏压EIS：EIS就是电化学交流阻抗谱测试可以得到电极电位，阻抗信息，从而模拟出系统内在串联电阻，并联电阻和电容相关信息BET：主要是测试材料比表面积的，可以得到材料的比表面积信息。XRD：主要是测试材料的物性，晶型的。高级的XRD还可以测试材料不同晶型的组分。质谱：主要用于鉴定材料的化学成分，包括液相质谱，气象质谱

---