半导体高压脉冲测试机原理

半导体高压脉冲测试机原理是依据标准根据客户要求定制，考察被测产品在瞬间高压脉冲放电时的寿命。同时配有辅助的指针表指示电压，以便在设备断电时检查是否放电完成。脉冲测试是一种能够减少器件总能耗的测量技术。它通过减少焦耳热效应（例如I2R和V2/R），避免对小型纳米器件可能造成的损坏。脉冲测试采用足够高的电源对待测器件（DUT）施加间隔很短的脉冲，产生高品质的可测信号，然后去掉信号源。

半导体制冷片不能使用脉冲方式供电，必须使用恒定的直流电供电才能使其正常工作，若用脉冲供电的话一来降低其制冷、制热量，而来使半导体制冷片寿命大幅度降低，并且极容易损坏元件。另外半导体制冷片用来制热的效果优于其制冷效果，制冷时能耗比仅为55%，制热则能达到155%。

---