半导体沟槽宽度

半导体沟槽宽度,第1张

半导体沟槽宽度

半导体沟槽宽度可以从几种角度来考虑,如材料类型、应用、制造工艺等。

1. 材料类型:半导体沟槽的宽度取决于所使用的半导体材料,不同的材料具有不同的物理性质,因此沟槽的宽度也不同。例如,硅沟槽的宽度可以达到几十纳米,而碳纳米管沟槽的宽度可以达到几百纳米。

2. 应用:半导体沟槽的宽度也取决于其应用。例如,用于高频电路的沟槽宽度要比用于低频电路的沟槽宽度小。

3. 制造工艺:半导体沟槽的宽度也取决于制造工艺,例如用于制造沟槽的光刻工艺,其最小的沟槽宽度可以达到几百纳米。

FinFET在发明之初就是为了解决平面晶体管的短沟道效应问题,其结构如图1所示。与平面晶体管不同之处在于FinFET的沟道平面垂直于衬底平面,并且沟道两侧以及顶部同时受到栅电极的电压控制,因此从静电势的分布来看,整个沟道厚度方向上存在着更为均匀的电场控制,使得沟道电荷更容易被栅电极的电压信号所调制,从而降低与源漏端的共享,即短沟道效应。

相比较32 nm平面晶体管,22 nm的FinFET器件亚阈值特性更加陡峭,从而能够在较低的阈值电压下工作而不破坏关态电流,从而获得更高的驱动电流。这使得FinFET可以在更低的工作电压下工作,获得超过37%的性能提升。

相比于FinFET器件,围栅纳米线器件可从各个方向控制沟道能电势,具有更强的短沟道效应控制能力,从而实现极小的泄漏电流。

工作原理是:当栅极和源极间加正向电压时,在P-和栅极相邻的区域,形成垂直的沟道,电流从漏极流向源极时,同样的,电流垂直流过芯片内部。其结构特点为栅极的宽度远小于垂直导电的平面结构,具有更小的单元的尺寸和导通电阻。


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