半导体传感器具体可以测量哪些物理量及其工作原理

◆半导体的一些特性∶掺杂性（在形成晶体结构的半导体中，人为地掺入特定的杂质元素，导电性能具有可控性。），热敏性，光敏性（在光照和热辐射条件下，其导电性有明显的变化。），负电阻率温度特性，整流特性，磁变特性。因此用半导体制作的传感器就可以测量多方面的物理量：

●热敏传感器：利用半导体在不同温度下具有不同电阻的特性来测量物体的温度；

●光敏传感器：利用半导体受光量的不同而具备的电阻率的不同，实现光强度的测量、亮度自动控制，或利用遮光原理实现计数、转速测量及先后次序测量等；

●负阻特性可用来检测温度变化，实现恒稳控制等应用，也可以监控电压电流变化；

●利用参杂性可实现化学性质变化的测量和报警，可制成烟雾、瓦斯报警器等。

●利用半导体的磁特性设计的霍尔传感器，可以测磁、测距。

◆所有根据半导体的特性设计的传感器都可认为是半导体传感器。

半导体噪声背景值用直接测量法。

1、测声源能够停止排放，背景值测量应选择与测量值测量同一位置，测量时间选择与测量值测量时间间隔较短时测量。

2、测声源不能够停止排放，则等待被测声源能够停止排放时，选择与测量值测量同一。

3、当直接测量法中规定的条件难以满足时，背景值测量可选择在与测量值测量不同位置，但其声环境应与测量值测量位置声环境相似的背景参考点测量。

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