紫外漫反射图说明什么

紫外漫反射图说明：相对半导体材料来说可以通过紫外漫反射来确定其禁带宽度。

光学测量在表面表征中已占有非常重要的位置。由测量染料、颜料而发展起来的漫反射紫外可见光谱(DRUVS)是检测非单晶材料的一种有效方法。在催化剂结构研究中，DRUVS已用于研究过渡金属离子及其化合物结构、活性组分与载体间的相互作用。

漫反射率

漫反射率是指反射光的总量和入射光总量之比。大部分发光材料是粉末状的，难以精确地测定其吸收光谱，通常只能通过粉末材料的漫反射光谱来估计其对光的吸收。但不能认为漫反射光谱就是吸收光谱，这两种光谱的概念是不同的，它们之间既有联系又有区别。

为了区别用电导率法测得的禁带宽度，用光吸收法测得的禁带宽度又叫光学带隙。

本征吸收过程吸收光的能量大于等于带隙的大小。可以通过吸收光的能量求算带隙。

紫外可见分光计的定量基础是朗伯比尔定律：吸光度与厚度呈正比。

对于半导体吸收边和吸收系数呈一定的关系：aE=A(E-Eg)m；两边同时取对数：ln(aE)=lnA+mln(E-Eg)

m的取值和半导体带隙的种类有关；A是常数，所以（aE）1/m与hv作图可以得到吸收边，吸收边延长至aE=0处可以得到光学带隙Eg

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