半导体传感器具体可以测量哪些物理量及其工作原理

◆半导体的一些特性∶掺杂性（在形成晶体结构的半导体中，人为地掺入特定的杂质元素，导电性能具有可控性。），热敏性，光敏性（在光照和热辐射条件下，其导电性有明显的变化。），负电阻率温度特性，整流特性，磁变特性。因此用半导体制作的传感器就可以测量多方面的物理量：

●热敏传感器：利用半导体在不同温度下具有不同电阻的特性来测量物体的温度；

●光敏传感器：利用半导体受光量的不同而具备的电阻率的不同，实现光强度的测量、亮度自动控制，或利用遮光原理实现计数、转速测量及先后次序测量等；

●负阻特性可用来检测温度变化，实现恒稳控制等应用，也可以监控电压电流变化；

●利用参杂性可实现化学性质变化的测量和报警，可制成烟雾、瓦斯报警器等。

●利用半导体的磁特性设计的霍尔传感器，可以测磁、测距。

◆所有根据半导体的特性设计的传感器都可认为是半导体传感器。

折射率与a-Si膜的含氢量、致密程度相关。一般随着含氢量的减少和致密度的提高，折射率增大。在太阳能电池应用方面，需要知道a-Si的折射率，以由于光学匹配方面的计算，比如用来确定后续减反射膜的膜厚和折射率等。

做半导体高度测量的话测量有很多限制，最好还是用专业的测量方法，用光谱测量法就是一个不错的选择，现在有很多先进的光谱测量设备，立仪科技这边提供的就有专业的光谱共焦光学测量设备，能精确的对半导体的高度进行测量，他们的设备适用领域广泛，测量的效率也挺高的，能有效的保证测量的精确度，我们企业就是用的他们这边提供的测量设备，确实更靠谱。

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