怎么建立虚拟光驱

要建立虚拟光盘首先要下载和安装虚拟光驱Vcdrom 2000，安装后需要重新启动计算机，在开始菜单程序中可以找到虚拟光驱，单击，再单击虚拟光驱总管。

1，在文档菜单中 选取建立VCD命令，或单击工具按钮上的建立VCD，产生下图对话框。

2，在CD-ROM来源中，显示光盘来源F：，大小3410M。由于光盘的规格繁乱，录制光盘的软硬件种类繁多，可能正在使用的光盘特别是早期制光盘并未依照标准规格录制，会间接造成虚拟光驱无法正常使用，因此，当用一般方法所建的虚拟光驱无法正确使用时，可选择使用通读法建立虚拟光驱，如上图。

3，硬盘：选择虚拟光盘将要存放的盘符，可选择。

文档：虚拟光盘在硬盘上所对应的文件名。

4，说明：对虚拟光盘的注解说明，并在虚拟光盘总管的管理窗口将此说明显示在虚拟光盘图标下面。

语塞虚拟光驱：双击虚拟光盘图标，虚拟光盘总管会将此虚拟光盘安插在预设的虚拟光驱中，建立多个虚拟光驱时，此设置将为第一个虚拟光驱。

5，使用压缩法：使用专业压缩方法存储在硬盘上，有不压缩、适中、最大压缩三种选择，最大压缩将会把光盘压缩到最小容量，但需要时间较长。

6，选取完成后，单击确定，产生如下图所显示的虚拟光盘状态。

建立完成后，虚拟光盘总管的管理窗口会增加该虚拟光盘图标，再选取插入按钮，该虚拟光盘被插入虚拟光驱，这时，就可以使用虚拟光盘了。

排行从高到低为麒麟810、麒麟980、麒麟960、麒麟955、麒麟950、麒麟659、麒麟658、麒麟655、麒麟935、麒麟930、麒麟650，我推荐麒麟980处理器。

目前最好的是麒麟980，P30、Mate20在用，据说Mate30会搭载980，不过目前M30还没出。

其次是麒麟970，P20、Mate10、Nova3在用。

再次是麒麟960，Mate9、Nova2s在用。

最后是麒麟810，据说Nova5会用，目前还没有出，据说能硬抗骁龙7系，暂时放在960并列的位置上，麒麟950这些没有在卖的就不说了。

麒麟710，虽然叫的是710，目的也是对标骁龙的710，但是实际上完全被吊打，也就能和660刚一刚。

麒麟659，16nm工艺制程，跑分88万，目前在华为荣耀系列搭载使用。

海思是目前国内（大陆地区）最大的半导体厂商，是国内最优质的芯片公司，不仅仅生产麒麟系列处理器，麒麟处理器从无到有，从能用到好用，走过了很长的路。是我们中国国产芯片企业的领头羊，未来也希望国产芯片性能越来越好。

目前中美两国正在打贸易战，为了就是卡住中国芯片事业的脖子，而首当其冲的就是华为海思公司，国产芯片的未来需要靠我们共同去创造和维护，让我们一起为国产芯片加油助威。

具体的看型号何对应规格图纸，如3386P:显而易见的，白色的调节帽和蓝色的基座。属于单圈精密电位器，脚呈三角排列，脚距525，顶部调节。有分带柄的和不带柄的。带柄的柄长有三种：柄长有三种：3mm、5mm、8mm。

1、图纸如下：

再结合其参数，可以了解到

2、蓝白可调电阻3386P的参数：其参数主要分为3个部分，环境特征、电位器性能及物理特征。

a、蓝白可调电阻3386P物理特征：

总机械行程: 280°

止档力矩: ≥50 mN•m

起动力矩: ≤20mN•m

标准包装 :50pcs /管

b、蓝白可调电阻3386P电位器环境特征：

额定功率(最高工作电压300V):+70℃ 05W,+125℃ ow

工作温度范围: -55℃ ~+125℃

温度系数: ±200ppm/℃

温度变化：△R≤±2%R，△(Uab/Uac)R≤±2%

70℃电气耐久性：05W，1000h △R≤±3%R

机械耐久性 ：50cycles，△R≤±3%R

碰撞：390m/s2,4000uqw , △R≤±2%R

振动：10~500Hz，075mm or98m/s2，6h△R≤±1%R，△(Uab/Uac)≤±2%

气候顺序： △R≤±3%R，R1≥100MΩ

稳态湿度：△R≤±3%R，R1≥100MΩ

c、蓝白可调电阻3386P的电位器性能：

绝缘电阻: R1≥1GΩ

耐电压:1013Kpa 600V,85Kpa 350V

有效电行程: 260°

阻值范围 : 10~1M

阻值偏差: ±10%

阻值变化特征: B

终端电阻: ≤1%R or 2Ω

接触电阻变化: ≤3%R or 3Ω

具体详细可参考>1第一步，使用电脑网页版连接在线客服中心，打开百度一下输入聚美优品进行搜索，之后点击优品进入商城2第二步，登录优品的个人账号和密码，没有账号密码可以在线注册进行登录3第三步，找到右下角方向带着耳麦的小人头，点击进行连接在线客服4第四步，选择要咨询的问题，1《售前服务》2《售后服务》3《会员服务》4《投诉建议》，以下我选择的是1《售前服务》进行一个商品的了解度以及推荐度
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1骁龙888处理器：
单核1134分，多核3769分，曼哈顿离屏：119帧
2骁龙870处理器：
单核987分，多核3386分，曼哈顿离屏：92帧
3天玑1200处理器：
单核925分，多核3131分，曼哈顿离屏：90帧
4天玑1100处理器：
单核869分，多核3058分，曼哈顿离屏：83帧
5骁龙780G处理器：
单核801分，多核2900分，曼哈顿离屏：65帧
从具体性能上来看，骁龙888毫无疑问是最佳的，但是考虑到今年骁龙888这颗大火龙芯片的实际表现确实让人无法满意，因为X1超大核心所带来的高功耗，会让骁龙888处理器在高负载的场景下出现降频等一系列问题，造成体验的下降，而且出现的频次还比较高尤其是体现在游戏缓解下，所以日常使用的情况下反倒不如骁龙870那么稳定，而且配备骁龙870处理器的手机在价格上也要比骁龙888手机更加的低廉，同价格下内容容量也更大。所以，如果没有极致的性能需求，在2000-3000元这个价位，骁龙870处理器是最适合大家选择的一款处理器

（一）导线
1、导体电阻：除TPT、TS和TST等锡芯电线外，UL不要求测量电线电缆产品的导体电阻。
2、线径：通常电线电缆的线径都是偶数AWG，如18AWG、16AWG等，奇数AWG电线属于特殊例外。
3、决定导体截面积的方法有二种：
A、测量每一根绞合芯线截面积之和，测量时至少要取7根苡线直径的平均值作为平均芯线直径。D
以Mils计算：导体截面积CMA=nd2（CMA：Circular Mil Area)
以毫米计算：导体=07854nd2
其中n为导体结构中芯线的根数。芯线直径的测量：根据UL1581第200节，每根芯线直径须使用精度达到001mm(0001英寸），两个端面都是平面的千分尺进行测量。
B、称重法，见UL1581第210节。
测量过程中发现测量值小于要求值（UL1581，Table201),可用两种方法中的另一种加以证实。（注：DC电阻测量法不能用来作为测量CMA的最终判断标准）。导体绝缘厚度
1、测量工具：千分尺
常用的千分尺，测量端面均为平面，最小读数：001mm
端面为19895mm，荷重10g的荷重千分尺（导体绝缘厚度）
平均绝缘厚度的测量：距端线10英寸开始，每10英寸为一个测量点，测量5个点处导线的外径，导体的直径。
绝缘厚度=（导线外径-导体直径）/2
将5个点处的绝缘厚度平均即得到平均绝缘厚度。
最小绝缘厚度的测量：
测量工具：pin-gauge千分尺,注意此方法适用于18AWG或更大线径的导线结构。截取一段抽出芯线导体的绝缘体，将其放置在千分尺的pin上。测量时先将荷重轻轻抬起，并缓慢转动绝缘体，读取最小值即视作导线绝缘体最小厚度。对于小于18AWG的导线，可采用读数显微镜方法。
2、测量工具，读数显微镜
取样时，小心抽取全部导体芯线，沿导线绝缘体方向垂直切片，在显微镜下测量最薄处的厚度，作为导体绝缘层的最小厚度。
通常将读数显微镜（精度为0001mm)的测量结果作为最终的参考标准。实际测量时发现一卷电线测量的最小厚度小于规定值多过2Mils，判定该卷电线不合格。若测量值小于规定值不超过2Mils,应在该卷电线上相距1英尺处抽取两个样测量，如果其中1个结果小于最小值，该卷电线判为不合格，若两个测量值均达标，判为合格。
外被
平均外被厚度
沿线身测量相距离英寸的5个点处外被的外径以及成缆直径，外被厚度=（外被外径-成缆直径）/2
平均外被厚度为5个点测量值的平均。
外被最小厚度：同导线最小绝缘厚度。外被内表面须先小心抛磨打平，再使用荷重85g,测量截面直径64mm的荷重千分尺测量。
读数显微镜测量：方法同导体绝缘厚度测量方法。
常见电线的平均厚度和最小厚度的对照表。见UL62，Table:162,164,166,168
绞距
芯线绞距
取芯线10个绞合的间距的平均值作为芯线平均绞距，测量时去除大约十个绞合长度的绝缘外皮，取任何一支芯线为对象进行测量。注意在去皮时不要损伤芯线，造成芯线断线。
导线绞距
同样取导线的10个绞距长度进行平均，作为平均导线绞距，取样时要注意由于导线绞合时的内应力一扭力很大，去除外被时可能造成原绞合结构的松散。为此，取样时先预留一段护套线不去除外被，再沿线缆方向用利刀片拉掉部分外被，最好是以能看到待测导线，而导线与外被结合得仍很紧密为宜。将样品平放拉直，量取某一导线十个绞合点之间的距离作为绞距，因为成缆时由于应力的关系，成形外被后原绞合距离会增加。
各种芯线最大绞距参见UL62。各种线径的导线最大绞距参见UL62
（二）燃烧测试
电线燃烧等级及测试方法对照表
续上
（三）耐电压测试
电缆中各导线间应施加UL62Table511相对应的电压，加压时应在10S至60S钟内缓慢将电压由零加到额定值，保持1分钟。判别标准为在升、降压以及保持期间，Hi-pot机电路报警。另一方面，绝缘电阻测试在某种程序上也能产生类似效果，所以先进行耐电压测试是一种积极的简便测试漏电的方法。
（四）火花测试
对于单芯电源线，如CXTW线，耐电压测试即为火花测试，而对于多芯电源线，日常生产测试中也可以用火花测试代替耐电压测试。
火花测试要点：
火花试验机
（1）镀铬铜珠练长度、位置：参见Table9001,从横向和纵向对珠练的间隔，排列方式等进行了规定，日常生产中须定期检查珠练是否掉落，如发现有部分不全，应及时加以更换。
（2）火花机V型测试槽长度L、测试频率、生产电线最大出线速率的关系，见Table9002可见工作频率提高，出线速率可以大幅提高，生产效率也可大大提升。
（3）线路接地：保持导体以及放、收线轮与火花机接地良好。
放线端为裸铜线：放线端接地，收线端不用接地，电线的导通性不须测试。
放线端为绝缘导线：导线与收线、放线轮导通连接，收线、放线端均须接地。对于10AWG或更细导线，不用测试导通性能。
测试电压：见Table9002
（五）绝缘电阻测试
1、普通电线电缆
绝缘高阻计直流电压调节为100-500V，长度为50FT-5000FT的电线在水槽中浸泡2小时，高阻计的一个电极连接到水槽的铜板电极上，另一电极连接到待测的电线导线上。测量时间为60秒，合格标准为156℃时1000英尺电线的绝缘电阻大于25M
将10 ℃-294 ℃水温的测量值折算为156 ℃、长度为1000英尺的值：
RLMTCF
1000
R：高阻计读数 L：实测电线长度
M：高阻计倍率 TCF：温度修正系数
TCF对照表可参见UL1581 Table521

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