Tektronix协助NEC完成USB 3.0产品测试

Tektronix协助NEC完成USB 3.0产品测试

示波器供货商Tektronix宣布，该公司的SuperSpeed USB解决方案支持NEC Electronics USB 3.0兼容主机控制器的信号质量验证作业；而该产品也是世界首度获得USB设计论坛(USB Implementers Forum)认证的USB 3.0产品。

NEC Electronics与Tektronix通力合作，验证该公司的新式硅组件以符合新兴SuperSpeed USB标准(USB3.0)的需求。与其他一些最先进的高速接口(如 PCI Express 2.0 和SATA Gen 3)比较，SuperSpeed USB 3.0的数据速率高达5Gbps，其效能足以应付更复杂的量测挑战。若要解决这些挑战，必须使用性能和d性具佳的仪器，以及能提供速度及简化设计工作、量测步骤与分析的工具。

Tektronix USB 3.0测试解决方案能提供工程师像NEC Electronics工程师一样的能力，除了为他们的USB 装置进行特性分析、除错和兼容性测试外，还可自动进行边际量测和兼容性测试。Tektronix AWG7122B任意波形产生器可针对关键的USB 3.0接收器边际测试，提供无与伦比的讯号产生d性，协助USB 3.0兼容产品更快上市。

Tektronix SuperSpeed USB兼容性解决方案是以仪器为基础所建置 (实时取样示波器、任意波形产生器等等)，能提供满足高速串行协议所需的量测效能。例如 DSA71254B实时示波器，提供一个高带宽、低噪声的环境，以准确撷取并分析快速串行讯号频率率。

拥有一部适合的示波器撷取系统，这对进行兼容性的眼图分析及边际测试来说是很重要的，AWG7122B任意波形产生器同样也提供包含应力的复杂波形，可仿真传输路径的递减效果，以支持接收器测试。

这些硬件工具搭配专业软件应用，如 DPOJET抖动与眼图分析工具、SerialXpress先进抖动产生工具，以及 TekExpress USB 3.0自动化兼容性测试软件，以提供设计人员所需的设计验证和除错工具。