(文章来源:PCB技术共享)
快闪存储器的编程时间有时会很长(对于大的存储器或存储器组可达1分钟)。因此,此时不容许有其它元件的逆驱动,否则快闪存储器可能会受到损害。为了避免这种情况,必须将所有与地址总线的控制线相连的元件置于高欧姆状态。同样,数据总线也必须能够被置于隔绝状态,以确保快闪存储器为空载,并可进行下步编程。
系统内可编程元件(ISP)有一些要求,如Altera,XilinX和Lattuce等公司的产品,还有其它一些特殊要求。除了可测试性的机械和电气前提条件应得到保证外,还要保证具有编程和确证数据的可能性。对于Altera和Xilinx元件,使用了连串矢量格式(Serial Vector Format SVF),这种格式近期几乎已发展成为工业标准。
许多测试系统可以对这类元件编程,并将连串矢量格式(SVF)内的输入数据用于测试信号发生器。通过边界扫描键(Boundary-Scan-Kette JTAG)对这些元件编程,也将连串数据格式编程。在汇集编程数据时,重要的是应考虑到电路中全部的元件链,不应将数据仅仅还原给要编程的元件。
编程时,自动测试信号发生器考虑到整个的元件链,并将其它元件接入旁路模型中。相反,LatTIce公司要求用JEDEC格式的数据,并通过通常的输入端和输出端并行编程。编程后,数据还要用于检查元件功能。开发部门提供的数据应尽可能地便于测试系统直接应用,或者通过简单转换便可应用。
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