如何利用AVR单片机实现AT24C256的数据高速稳定的读取

如何利用AVR单片机实现AT24C256的数据高速稳定的读取,第1张

最近刚买回一块AT24C256 EEPROM ,容量为32K Byte ,数据地址宽度为 16Bit ,支持IIC 1M (5V)400K (2.7V) 速度模式 ,利用AVR M16 片内IIC 可以高速稳定地读取数据! 经过调试的,与各位大虾分享分享。


 

程序如下:(winavr)

#include

#include

#include

#include

#define FREQ 8

#include

#include

#include

#define uchar unsigned char

#define uint unsigned int

#define ulong unsigned long

//管脚定义

#define pinSCL 0 //PC0 SCL

#define pinSDA 1 //PC1 SDA

//为保险起见,最好在SCL/SDA接上1~10K的外部上拉电阻到VCC。

#define fSCL 1000000 //TWI时钟为1000KHz

//预分频系数=1(TWPS=0)

#if F_CPU 《 fSCL*36

#define TWBR_SET 2; //TWBR必须大于等于10

#else

#define TWBR_SET (F_CPU/fSCL-16)/2; //计算TWBR值

#endif

#define TW_ACT (1《//TWCR只能IN/OUT,直接赋值比逻辑运算(|= &=)更节省空间

#define SLA_24CXX 0xA0 //24Cxx系列的厂商器件地址(高四位)

#define ADDR_24C256 0x00

// AT24C256的地址线A2/1/0全部接地,SLAW=0xA0+0x00《《1+0x00,SLAR=0xA0+0x00《《1+0x01

//TWI_ *** 作状态

#define TW_BUSY 0

#define TW_OK 1

#define TW_FAIL 2

//TWI_读写命令状态

#define OP_BUSY 0

#define OP_RUN 1

//TWI读写 *** 作公共步骤

#define ST_FAIL 0 //出错状态

#define ST_START 1 //START状态检查

#define ST_SLAW 2 //SLAW状态检查

#define ST_WADDR_H 3 //ADDR状态检查

#define ST_WADDR_L 4 //ADDR状态检查

//TWI读 *** 作步骤

#define ST_RESTART 5 //RESTART状态检查

#define ST_SLAR 6 //SLAR状态检查

#define ST_RDATA 7 //读取数据状态检查,循环n字节

//TWI写 *** 作步骤

#define ST_WDATA 8 //写数据状态检查,循环n字节

#define FAIL_MAX 1 //重试次数最大值

void delay_nms(uint ms)//若干毫秒延时

{

int i;

for(i=0;i{

_delay_loop_2(FREQ*250);

}

}

unsigned char TWI_RW(unsigned char sla,unsigned int addr,unsigned char *ptr,unsigned int len);

unsigned char BUFFER[256]; //缓冲区

void Test(void);

struct str_TWI //TWI数据结构

{

volaTIle unsigned char STATUS; //TWI_ *** 作状态

unsigned char SLA; //从设备的器件地址

unsigned char ADDR_H; //从设备的数据地址

unsigned char ADDR_L; //从设备的数据地址

unsigned char *pBUF; //数据缓冲区指针

unsigned int DATALEN; //数据长度

unsigned char STATE; //TWI读写 *** 作步骤

unsigned char FAILCNT; //失败重试次数

};

struct str_TWI strTWI; //TWI的数据结构变量

//AT24C256的读写函数(包括随机读,连续读,字节写,页写)

//根据sla的最低位决定(由中断程序中判断)

//bit0=1 TW_READ 读

//bit0=0 TW_WRITE 写

// sla 器件地址(不能搞错)

// addr EEPROM地址(0~32767)

// *ptr 读写数据缓冲区

// len 读数据长度(1~32768),写数据长度(1 or 8 or 16 or 32 or 64)

// 返回值 是否能执行当前 *** 作

unsigned char TWI_RW(unsigned char sla,unsigned int addr,unsigned char *ptr,unsigned int len)

{

// unsigned char i;

if (strTWI.STATUS==TW_BUSY)

{//TWI忙,不能进行 *** 作

return OP_BUSY;

}

strTWI.STATUS=TW_BUSY;

strTWI.SLA=sla;

strTWI.ADDR_H=(unsigned char)((addr》》8)&0xff);

strTWI.ADDR_L=(unsigned char)(addr&0xff);

strTWI.pBUF=ptr;

strTWI.DATALEN=len;

strTWI.STATE=ST_START;

strTWI.FAILCNT=0;

TWCR=(1《 return OP_RUN;

}

SIGNAL(SIG_2WIRE_SERIAL)

{//IIC中断

unsigned char acTIon,state,status;

acTIon=strTWI.SLA&TW_READ; //取 *** 作模式

state=strTWI.STATE;

status=TWSR&0xF8; //屏蔽预分频位

if ((status》=0x60)||(status==0x00))

{//总线错误或从机模式引发的中断,不予处理

return;

}

switch(state)

{

case ST_START: //START状态检查

if(status==TW_START)

{//发送start信号成功

TWDR=strTWI.SLA&0xFE; //发送器件地址写SLAW

TWCR=TW_ACT; //触发下一步动作,同时清start发送标志

}

else

{//发送start信号出错

state=ST_FAIL;

}

break;

case ST_SLAW: //SLAW状态检查

if(status==TW_MT_SLA_ACK)

{//发送器件高位地址成功

TWDR=strTWI.ADDR_H; //发送eeprom地址

TWCR=TW_ACT; //触发下一步动作

}

else

{//发送器件地址出错

state=ST_FAIL;

}

break;

case ST_WADDR_H: //ADDR状态检查

if(status==TW_MT_DATA_ACK)

{//发送器件低位地址成功

TWDR=strTWI.ADDR_L; //发送eeprom地址

TWCR=TW_ACT; //触发下一步动作

}

else

{//发送器件地址出错

state=ST_FAIL;

}

break;

case ST_WADDR_L: //ADDR状态检查

if(status==TW_MT_DATA_ACK)

{//发送eeprom地址成功

if (acTIon==TW_READ)

{//读 *** 作模式

TWCR=(1《 }

else

{//写 *** 作模式

TWDR=*strTWI.pBUF++; //写第一个字节

strTWI.DATALEN--;

state=ST_WDATA-1; //下一步将跳到WDATA分支

TWCR=TW_ACT; //触发下一步动作

}

}

else

{//发送eeprom地址出错

state=ST_FAIL;

}

break;

case ST_RESTART: //RESTART状态检查,只有读 *** 作模式才能跳到这里

if(status==TW_REP_START)

{//发送restart信号成功

TWDR=strTWI.SLA; //发器件地址读SLAR

TWCR=TW_ACT; //触发下一步动作,同时清start发送标志

}

else

{//重发start信号出错

state=ST_FAIL;

}

break;

case ST_SLAR: //SLAR状态检查,只有读 *** 作模式才能跳到这里

if(status==TW_MR_SLA_ACK)

{//发送器件地址成功

if (strTWI.DATALEN--)

{//多个数据

TWCR=(1《 }

else

{//只有一个数据

TWCR=TW_ACT; //设定NAK,触发下一步动作

}

}

else

{//发送器件地址出错

state=ST_FAIL;

}

break;

case ST_RDATA: //读取数据状态检查,只有读 *** 作模式才能跳到这里

state--; //循环,直到读完指定长度数据

if(status==TW_MR_DATA_ACK)

{//读取数据成功,但不是最后一个数据

*strTWI.pBUF++=TWDR;

if (strTWI.DATALEN--)

{//还有多个数据

TWCR=(1《 }

else

{//准备读最后一个数据

TWCR=TW_ACT; //设定NAK,触发下一步动作

}

}

else if(status==TW_MR_DATA_NACK)

{//已经读完最后一个数据

*strTWI.pBUF++=TWDR;

TWCR=(1《 strTWI.STATUS=TW_OK;

}

else

{//读取数据出错

state=ST_FAIL;

}

break;

case ST_WDATA: //写数据状态检查,只有写 *** 作模式才能跳到这里

state--; //循环,直到写完指定长度数据

if(status==TW_MT_DATA_ACK)

{//写数据成功

if (strTWI.DATALEN)

{//还要写

TWDR=*strTWI.pBUF++;

strTWI.DATALEN--;

TWCR=TW_ACT; //触发下一步动作

}

else

{//写够了

TWCR=(1《 strTWI.STATUS=TW_OK;

//启动写命令后需要10ms(最大)的编程时间才能真正的把数据记录下来

//编程期间器件不响应任何命令

}

}

else

{//写数据失败

state=ST_FAIL;

}

break;

default:

//错误状态

state=ST_FAIL;

break;

}

欢迎分享,转载请注明来源:内存溢出

原文地址: http://outofmemory.cn/dianzi/2601559.html

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