4G TD-LTE测试解决方案全方位解读

　　1 前言

　　LTE系统支持FDD和TDD两种双工方式。在这两种双工方式下，系统的大部分设计，尤其是高层协议方面是一致的。另一方面，在系统底层设计，尤其是物理层的设计上，由于FDD和TDD两种双工方式在物理特性上所固有的不同，LTE系统为TDD的工作方式进行了一系列专门的设计，这些设计在一定程度上参考和继承了TD-SCDMA的设计思想，下面我们对这些设计进行简要的描述与讨论。

　　3GPP LTE和之前的系统在空中接口上存在很大的不同，所以对于测试就提出了新的要求。基于在3G测试领域的丰富经验和领先地位，是德科技对于LTE标准从早期的研发阶段就开始跟踪研究，积累了丰富的经验成果，目前不仅可以为LTE FDD，而且也可以为TD-LTE无线设备研发提供了完整的测试产品线。设备制造商自始自终都可以依赖于是德科技的产品和专家级的支持。

　　如下图所示，我们可以看到是德科技在LTE FDD/TD-LTE各个领域以及客户研发设备的整个生命周期都能给出完整的解决方案，适合不同客户的需求。

　　图一 Keysight LTE整体解决方案

　　2 Keysight TD-LTE测试解决方案

　　干扰信号和有效信号还有另外一个特点，那就是干扰信号和有效信号会随着车速、风速的快慢而改变。抗干扰的方法如图4所示，首先由RC 组成的低通滤波器滤除高频干扰信号，并对输入信号的幅值进行限幅与整形，再由光电隔离器件实现数据采集器与变频器之间的隔离，从而实现数字信号通道的抗干 扰要求。

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