众所周知，测试技术是产业链的重要组成部分，而当下的物联网时代创新应用层出不穷，给测试行业带来全新机遇的同时，亦是一次巨大的挑战，唯有紧跟节奏才能抢占先机。你的测试方案，跟上物联网高速发展的步伐了吗？
本期11月《测试测量特刊》，邀你一起共探物联网时代下的测试商机，共享测试巨头最前沿测试方案，让你的产品更具竞争力！
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经过过去几年的技术和市场培育，物联网即将进入高速发展期，而万物互联的美好愿景下，机遇与挑战并存，尤其是测试技术的挑战。
NI 东亚区副总裁 Ajit Gokhale先生表示，NI非常看好物联网领域的市场前景，特别是在工业物联网领域。现在，NI坚持以图形化系统设计为核心，紧紧把握物联网浪潮，积极创新，开发出NI半导体测试系统（STS）系列、软件设计的仪器PXIe-5171R示波器、RXle-5668R矢量信号分析仪等一系列的新型测试产品，并和众多合作伙伴共同开发出许多业界领先的解决方案。
——「高端访谈」NI以开放与创新应对扑面而来的物联网
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物联网的发展离不开无线技术，而4G更是其中一股不可忽视的中坚力量。有业内人士表明，4G技术将加速物联网获益，Marvell公司亦对此予以肯定，并致力于将物联网与4G互相打通。本期「特别聚焦」为你专业解读，看4G如何带动物联网测试腾飞。
是德科技（中国）电源及能源事业部业务拓展经理吕宝华指出，针对可穿戴设备及其他便携设备功耗进行快速、精准测量，然后分析结果，再到优化，能有效改善功耗问题。对此，是德科技提出了三件套思考：解决大功耗问题，确保电池性能，以及充放电管理。
纵观整个市场，物联网发展大势已不可挡，其中可穿戴技术更是以颠覆性创新备受瞩目。当下的可穿戴设备，产品同质化严重、缺乏创新、续航差等仍是难以跨越的瓶颈，本期「Change The World」TÜV莱茵智能手环评估方案将带你重新定义可穿戴！在「EE SHOW」栏目中更有来自是德科技的专家动手亲测某智能手表，分享功耗分析全过程。
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