Analog Devices， Inc. （ADI）推出集成ADC驱动器的FET输入AFE（模拟前端）ADA4350，用于与电流模式传感器（如光电二极管）和高输出阻抗电压传感器直接接口。ADA4350在单个封装中集成FET输入放大器、开关网络和ADC驱动器，相比分立方案，它可以简化设计，降低功耗，PCB尺寸缩小50%以上。
ADA4350在低频时的噪声很低，10 Hz时噪声为90 nV/√Hz，100 kHz时的宽带噪声为5 nV/√Hz，传感器输出的信噪比得以最大化。集成增益开关支持宽动态范围测量，可测量光子或电子等非常小的敏感信号。利用ADA4350的片内编程能力，设计人员可以选择优化的外部反馈元件。只需一个芯片，便可将单端或差分传感器电流或电压信号转换为高速、低噪声、单端或差分输出电压。
在分析测量应用中，可能需要监控强度范围达数十dB的光信号。这就需要多种增益切换网络，它们常常包含多个外部放大器和模拟开关，导致系统出现误差的可能性加大。ADA4350集成了开关网络和输入放大器，漏电流极小，并且允许开关网络最多选择六个外部可配置的反馈网络。在测试与测量系统中，无论用户如何调整仪器的输入范围，所有增益水平下都必须保持同样高的测量精度。ADA4350具有高阻抗/低Ib输入放大器和串行端口控制的开关网络，因而非常适合测量较宽动态范围的信号。该器件还能缩小PCB尺寸，同时大幅增加通道数，而不会产生热密度限制问题。
ADA4350 FET输入AFE特性
• 低噪声、低输入偏置电流FET输入放大器
o 90 nV/√Hz （10 Hz）
o 5 nV/√Hz （100 Hz）
• 集成增益开关
o 开关漏电流：± 1 pA（典型值）
• 集成ADC驱动器
o 差分和单端模式
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