半导体高压脉冲测试机原理

半导体高压脉冲测试机原理是依据标准根据客户要求定制，考察被测产品在瞬间高压脉冲放电时的寿命。同时配有辅助的指针表指示电压，以便在设备断电时检查是否放电完成。脉冲测试是一种能够减少器件总能耗的测量技术。它通过减少焦耳热效应（例如I2R和V2/R），避免对小型纳米器件可能造成的损坏。脉冲测试采用足够高的电源对待测器件（DUT）施加间隔很短的脉冲，产生高品质的可测信号，然后去掉信号源。

1、信号的散粒噪声散粒噪声：是在半导体器件中载流子产生与消失的随机性，使得流动着的载流子数目发生波动，时多时少而引起电流瞬时涨落引起的）。

2、自发发射的散粒噪声。

3、信号-自发发射的拍噪声ns-sp。

4、自发发射之间的拍噪声nsp-sp。

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