无机半导体薄膜 如何量测期能带(未知材料)

X-射线衍射可以测量，固体物理有讲，比如这篇文章比较具体《Electronic structure of GaN and Ga

investigated by soft x-ray spectroscopy and first-principles methods》，你可以在Google里直接下到全文

主动发光，全视角，可弯曲，能耗超低，是极有可能取代液晶，LED的强力对手。偶是OLED的在读研一硕士，还是了解一些的，材料包括注入层，空穴传输，发光，电子传输，阻挡层。。。。很多的，都会有不同的要求，迁移率搞，玻璃化温度高是必须要求的。不知你问这些是做神马用的？

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