有几种类型的分析 X 射线系统,例如 X 射线荧光 (XRF)、X 射线衍射 (XRD)、XAFS、XPS (ESCA)、SAXS 和 EPMA。X 射线荧光光谱仪 (XRF) 包括能量色散 X 射线分析 (EDX) 和波长色散 X 射线分析 (WDX),用于将 X 射线照射在样品上以确定构成样品的元素和他们的内容。不同的元素具有不同波长的X射线,因此当用X射线照射样品时,返回具有不同波长(能量)的X射线。
在波长色散 X 射线分析中,不同波长的 X 射线会改变衍射角,因此当 X 射线照射到光谱晶体上时,它们会被波长解析。将样品反射回来的荧光X射线注入单色器晶体进行光谱分析,就像可见光被棱镜分光一样,每个波长的X射线强度由检测器测量。在能量色散 X 射线分析中,半导体检测器接收荧光 X 射线,并对信号进行处理以测量每个波长的 X 射线强度。这两种方法都使用X射线管,需要灯丝电源产生热电子和X射线加速电压电源。
产生X射线的方法有很多种,包括阳极接地和阴极接地两种;阴极接地的 X 射线通常用于 XRF,阳极接地的 X 射线用于 XRD。与无损检测 X 射线不同,分析型 X 射线不需要太多加速电压。因此,电压可以达到 60 kV,但可能需要光强度(亮度)。在这种情况下,使用了几千瓦的 X 射线管,并通过水冷来防止管子过热。内置于设备中的检测器可能还需要几百伏到几千伏的电源系统。
主要应用:
X 射线荧光光谱仪 (XRF) ,X射线衍射仪(XRD) ,能量色散 X 射线分析 (EDX) ,波长色散 X 射线分析 (WDX) ,灯丝电源 ,加速电压
威思曼拥有一系列可用于X射线管的电源。示例:XRNXRDXRAXRW
X射线是具有极短波长和高能量的电磁波。 X射线的波长短于可见光的波长(大约在0.001至100 nm之间,而医学中使用的X射线的波长在0.001至0.1 nm之间),其光子能量为数万至数十万倍大于可见光。由于其短波长和大能量,X射线在撞击物质时仅被该物质部分吸收,并且大部分通过原子之间的间隙透射,显示出强大的穿透能力。它的穿透能力与X射线的波长以及所穿透物质的密度和厚度有关。X射线波长越短,穿透率越大;密度越低,厚度越薄,X射线越容易穿透。
X射线的应用:
它通常用于医学上的荧光检查和工业中的探伤。如果工件的局部区域存在缺陷,则可以使用某种检测方法来确定工件中是否存在缺陷以及缺陷的位置和大小。
当该物质受到X射线照射时,会导致核外电子偏离原子轨道而产生电离。电离电荷的量可用于确定X射线曝光量。根据该原理,制造了X射线测量仪。 X射线检查设备用于实现零件的缺陷检测。
目前,市场上的X射线检查设备广泛用于电子工业的X射线检查,半导体X射线检查,锂电池X射线检查等各个行业。它在产品检查,异物扫描中起着至关重要的作用。 以及安全检查。
半导体封装测试厂家包括生产设备,半导体设备泛指用于生产各类半导体产品所需的生产设备,属于半导体行业产业链的关键支撑环节。半导体设备是半导体产业的技术先导者,芯片设计、晶圆制造和封装测试等需在设备技术允许的范围内设计和制造,设备的技术进步又反过来推动半导体产业的发展。
一般来说,半导体封装及测试是半导体制造流程中极其重要的收尾工作。
半导体封装是利用薄膜细微加工等技术将芯片在基板上布局、固定及连接,并用可塑性绝缘介质灌封后形成电子产品的过程,目的是保护芯片免受损伤,保证芯片的散热性能,以及实现电能和电信号的传输,确保系统正常工作;而半导体测试主要是对芯片外观、性能等进行检测,目的是确保产品质量。
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