半导体技术的重要性

在半导体领域，“大数据分析”作为新的增长市场而备受期待。这是因为进行大数据分析时，除了微处理器之外，还需要高速且容量大的新型存储器。在《日经电子》主办的研讨会上，日本中央大学教授竹内健谈到了这一点。

例如，日本中央高速公路的笹子隧道崩塌事故造成了多人死亡，而如果把长年以来的维修和检查数据建立成数据库，对其进行大数据分析，或许就可以将此类事故防患于未然。全世界老化的隧道和建筑恐怕数不胜数，估计会成为一个相当大的市场。

例如，在庞大的数据中搜索所需信息时，其重点在于如何制作索引数据。索引数据的总量估计会与原始数据一样庞大。而且，索引需要经常更新，不适合使用随机改写速度较慢的NAND闪存。因此，主要采用的是使用DRAM的内存数据库，但DRAM不仅容量单价高，而且耗电量大，所以市场迫切需要能够替代DRAM的高速、大容量的新型存储器。

新型存储器的候选有很多，包括磁存储器(MRAM)、可变电阻式存储器(ReRAM)、相变存储器(PRAM)等。虽然存储器本身的技术开发也很重要，但对于大数据分析，使存储器物尽其用的控制器和中间件的技术似乎更加重要。而且，存储器行业垄断现象严重，只有有限的几家半导体厂商能够提供存储器，而在控制器和中间件的开发之中，风险企业还可以大显身手。

如今，新兴产业的发展进一步证明了半导体测试的重要性。随着通信速度的加快，基带和射频前端都受到了挑战。由于需要支持多种模式，射频前端还将集成功率放大器、低噪声放大器(LNA)、双工器和天线开关等模块，并将它们封装在一个组件中。在设计和生产过程中，检测变得非常重要。只有准确地测量器件的参数，才能优化设计方案，提高产品生产的成功率。

对于半导体检测，虽然需要用于大规模生产、实验室、晶片等环节，但相关环节也比较复杂，但电气性能测试是基本环节，半导体器件或模块在研究开发、设计和生产过程中是必不可少的环节。

在电气性能测试环节中，电流测试方案是源测量单元(SMU)。SMU是一种具有电压输出和测量以及电流输出和测量功能的精密电源仪表。这种电压和电流的控制给你提供了通过欧姆定律计算电阻和功率的灵活性，它可以同时控制和测量电压和电流，主要为消费类电子产品、IC设计和验证以及其他实验室提供电气性能测试。

目前市场上有许多(SMU)厂家可以提供源测量单元，相关产品很多，但测试仪器越贵，测试精度越高，从某种意义上说，要掌握源测量单元(SMU)，就必须了解产生误差的原因和减小误差的方法。

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