聚光分析仪气室压力传感器故障

常见压力传感器故障及故障解决方法

发布日期：2019-11-26 浏览量：18874

用户在使用压力传感器经常因为些或多或少的原因而使传感器出现故障，可能是自身使用方法不得当，也可能是外部环境因素发生该改变，或者传感器生产质量不过关等等都有可能造成压力传感器出线故障，下面为各位用户介绍四种压力传感器最常出现的一些故障以及检查方法，以便大家能第一时间找到问题所在。

压力传感器有哪些常见的故障？

一、压力能上去，变送器输出上不去

这种情况，应该先检查压力接口是否存在漏气或者被堵住，如果确认了没有，则检查接线方式有没有错和检查电源，如果电源正常则要进行简单加压看输出有没有变化，或者察看传感器的零位是否有输出，假如没变化则传感器已损坏，反之则是仪表损坏或者整个系统的其他环节的问题。

二、压力传感器密封圈的问题

首次加压，变送器输出没有变化，再加压变送器输出突然变化，泄压后变送器零位回不去，很有可能是压力传感器密封圈的问题。常见的情况是由于密封圈规格原因，传感器拧紧之后密封圈被压缩到传感器引压口里面从而堵塞了传感器。加压时压力介质进不去，但在压力大时突然冲开了密封圈，压力传感器受到压力而变化。要排除这种故障的最佳方法就是将传感器卸下，直接察看零位是否正常，若零位正常可更换密封圈再试。

三、变送器的输出信号不稳定

这种故障可以肯定是压力源的问题。压力源本身是一个不稳定的压力，很有可能是仪表或压力传感器的抗干扰能力不强、传感器本身振动很厉害或者传感器已损坏。

四、变送器与指针式压力表对照的偏差大

出现此种偏差是正常的现象，确认正常的偏差范围即可；最后一种易出现的故障是微差压变送器的安装位置对零位输出的影响。微差压变送器由于其测量范围很小，变送器中传感元件会影响到微差压变送器的输出。安装时应使变送器的压力敏感件轴向90度垂直于重力方向，安装固定后要记得调整变送器零位到标准值。

半导体参数分析仪（器件分析仪）是一种集多种测量和分析功能于一体的测试仪器，可准确执行电流-电压（IV）和电容测量（CV（电容-电压）、C - f（电容-频率）以及 C – t（电容-时间）测量），并快速、轻松地对测量结果进行分析，完成半导体参数测试。半导体参数测试是确定半导体器件特征及其制造过程的一项基础测量。在参数测试中，通常需要进行 IV 测量，包括分辨率低至 fA（毫微微安培）的小电流测量和高达 1 MHz 的CV 测量，并对主要特征/参数进行分析。虽然半导体参数分析仪的设计初衷是进行半导体评测，但因其优越的性能、强大的功能以及出色的易 *** 作性，现已在各种材料、器件和电子器件的 IV 和 CV 表征中得到广泛应用。

半导体参数分析仪可为表征任务提供更高的性能、更强的可用性以及更高的效率。参数分析仪集多种测量资源于一身，可轻松进行 IV 和 CV 测量，无需汇集或集成多种仪器，例如电源、电压表、电流表、LCR 表、开关矩阵等。参数分析仪的主要测量元器件是电源/测量单元（SMU）。SMU 是一种将电压/电流源功能和电压/电流表功能结合于单一模块中的测量模块。由于该参数分析仪将电源和测量电路紧密集成，所以相比使用多种独立仪器进行相同测量来说，可以提供更高的精度、分辨率以及更小的测量误差。

此外，参数分析仪还具有分析功能，使您无需借助外部 PC 便可快速地交互检查和分析显示屏上的测量结果。由于半导体参数分析仪具有多种功能，因此适用于从探索分析到自动测试的各种测量环境。