关于半导体金线的wire pull问题?

关于半导体金线的wire pull问题?,第1张

wire

pull:金线拉力。是衡量金线韧性

物理

参数

。PULL的大小影响CHIP后续的塑封质量,在

环氧树脂

塑封的过程中,是高温使

树脂

融化,强压力下注入封装

模具

,树脂的冲击力会对金线造成变形

,如果WIRE

PULL太小,会造成金线在金球根部折断,造成封装不良。WIRE

PULL太大,但是如果不影响其韧性,不会造成注塑冲击变形,造成金线打连,就没什么问题。。。

wire pull:金线拉力。是衡量金线韧性的物理参数。PULL的大小影响CHIP后续的塑封质量,在环氧树脂塑封的过程中,是高温使树脂融化,强压力下注入封装模具,树脂的冲击力会对金线造成变形 ,如果WIRE PULL太小,会造成金线在金球根部折断,造成封装不良。WIRE PULL太大,但是如果不影响其韧性,不会造成注塑冲击变形,造成金线打连,就没什么问题。。。


欢迎分享,转载请注明来源:内存溢出

原文地址: http://outofmemory.cn/dianzi/8624288.html

(0)
打赏 微信扫一扫 微信扫一扫 支付宝扫一扫 支付宝扫一扫
上一篇 2023-04-19
下一篇 2023-04-19

发表评论

登录后才能评论

评论列表(0条)

保存