测量禁带宽度
1:利用紫外见漫反射测量吸光度与波数据作图利用截线做吸收波阈值 λg(nm)利用公式 Eg=1240/λg (eV) 计算禁带宽度
2:利用 (Ahν)2 hν 做图利用直线部外推至横坐标交点即禁带宽度值利用(Ahν)0.5 hν 做图利用直线部外推至横坐标交点即禁带宽度值前者间接半导体禁带宽度值者直接半导体禁带宽度值 A (Absorbance) 即紫外见漫反射吸光度
3:利用 (αhν)2 hν 做图利用直线部外推至横坐标交点即禁带宽度值利用(αhν)0.5 hν 做图利用直线部外推至横坐标交点即禁带宽度值前者间接半导体禁带宽度值者直接半导体禁带宽度值 α (Absorption Coefficient ) 即紫外见漫反射吸收系数α 与 A 比
般两种:
1、紫外-见光谱测量材料吸收边带隙;
百度资料
2、电化(循环伏安)测定带隙、HOMO/LUMO能级;
Ref:Adv. Mater. 2011, 23, 2367–2371
吸收谱可以通过吸收边大致判断带宽,也可以建立ahv和hv为坐标的曲线,具体还要考虑是直接带隙半导体还是间接带隙半导体,有两个公式。发光谱?你是说photoluminescence吧?就看发光峰对应的能量啊,比如500nm的峰就对应1240/500=2.48ev的光子,如果这个能量和带隙宽度差不多就是本征发光,如果低于带隙宽度的能量就是缺陷发光。欢迎分享,转载请注明来源:内存溢出
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