漏电流过大是什么原因？

所謂的漏電流﹐是由于電容的絕緣介質中不完全的絕緣﹐而是有一定的阻抗﹐故存在損耗現象﹐而在一部份損耗以電流的形式表現出來就是漏電流。漏电流过大的一个原因可能因为芯片的process有问题导致的.一般的芯片用时间久了,其漏电流就会增大,常见的如手机待机时间不长,就是由于芯片的漏电流过大导致的.此外,对于漏电流,也可以采取一些保护设计的方式,进行改善,在下不是从事设计工作,所以不是特别清楚.big question. it can be a book.Basically, if the I leakage is less than 1x 10 -12 , you have a clean process.Process:STI influence the leakageGIDLDIBLSilicde漏电主要有以下几个因数导致1.设计:设计错误,或设计规则小于生产线规则2.工艺:表面漏电,主要是表面反型引起(缺陷只能导致局部漏电)3.测试一般不会造成漏电,除非外围搞错了一般来说设计规则和生产线规则严重不符的低级错误比较少见,除非你对这条生产线很熟悉,可以做极限试验,生产线脏污表面反型的可能性较大.问得太笼统了……半导体的东西其实囊括了太多太多的东西。。。要说这个漏电。。是输入漏电流还是输出漏电流啊！但主要是芯片内部直接与管脚相连的一级管子没有完全关闭造成的作IDDQ的测试.很想了解,ic线路内open是否也会造成漏电如果产品没有问题的话,通常是量测的问题,时间..测试次数..值的计算.....因素测试时湿度过大也会导致漏电流我这几天正在做这个问题的一个反馈，我做了功耗曲线的分析，我是做中测的，感觉是封装上出了问题，可能是没有弄金丝封装，原因好多，我 还不知道到底出在哪，准备去生产线山看看个人认为,实际生产中,尤其是稳定的线上生产产生漏电的最大原因就是污染,由于生产 *** 作的不规范造成.同意ls 生产线洁净度是控制金属离子玷污最大关键主要原因就是绝缘性能降低了，该绝缘地方或时候绝缘性能差了

三极管的管型及管脚的判别方法，有四句口诀：“三颠倒，找基极；PN结，定管型；顺箭头，偏转大；测不准，动嘴巴。”下面逐句进行解释吧。一、三颠倒，找基极大家知道，三极管是含有两个PN结的半导体器件。根据两个PN结连接方式不同，可以分为NPN型和PNP型两种不同导电类型的三极管。测试三极管要使用万用电表的欧姆挡，并选择R×100或R×1k挡位。红表笔所连接的是表内电池的负极，黑表笔则连接着表内电池的正极。假定我们并不知道被测三极管是NPN型还是PNP型，也分不清各管脚是什么电极。测试的第一步是判断哪个管脚是基极。这时，我们任取两个电极(如这两个电极为1、2)，用万用电表两支表笔颠倒测量它的正、反向电阻，观察表针的偏转角度；接着，再取1、3两个电极和2、3两个电极，分别颠倒测量它们的正、反向电阻，观察表针的偏转角度。在这三次颠倒测量中，必然有两次测量结果相近：即颠倒测量中表针一次偏转大，一次偏转小；剩下一次必然是颠倒测量前后指针偏转角度都很小，这一次未测的那只管脚就是我们要寻找的基极二、PN结，定管型找出三极管的基极后，我们就可以根据基极与另外两个电极之间PN结的方向来确定管子的导电类型。将万用表的黑表笔接触基极，红表笔接触另外两个电极中的任一电极，若表头指针偏转角度很大，则说明被测三极管为NPN型管；若表头指针偏转角度很小，则被测管即为PNP型。三、顺箭头，偏转大找出了基极b，另外两个电极哪个是集电极c，哪个是发射极e呢?这时我们可以用测穿透电流ICEO的方法确定集电极c和发射极e。　(1)对于NPN型三极管，用万用电表的黑、红表笔颠倒测量两极间的正、反向电阻Rce和Rec，虽然两次测量中万用表指针偏转角度都很小，但仔细观察，总会有一次偏转角度稍大，此时电流的流向一定是：黑表笔→c极→b极→e极→红表笔，电流流向正好与三极管符号中的箭头方向一致(“顺箭头”)，所以此时黑表笔所接的一定是集电极c，红表笔所接的一定是发射极e。　(2)对于PNP型的三极管，道理也类似于NPN型，其电流流向一定是：黑表笔→e极→b极→c极→红表笔，其电流流向也与三极管符号中的箭头方向一致，所以此时黑表笔所接的一定是发射极e，红表笔所接的一定是集电极c四、测不出，动嘴巴若在“顺箭头，偏转大”的测量过程中，若由于颠倒前后的两次测量指针偏转均太小难以区分时，就要“动嘴巴”了。具体方法是：在“顺箭头，偏转大”的两次测量中，用两只手分别捏住两表笔与管脚的结合部，用嘴巴含住(或用舌头抵住)基电极b，仍用“顺箭头，偏转大”的判别方法即可区分开集电极c与发射极e。其中人体起到直流偏置电阻的作用，目的是使效果更加明显

对于二极管，可通过测量正、反向电阻来大致判断其好坏（正向电阻很小，反向电阻很大）

对于三极管，也可以通过类似方法判断c-b，e-b的单向特性，然后再测量c-e之间阻值应该更大，否则可能是集-射漏电现象严重。

当然，上述方法只是简单判断，真正性能要用专业仪器检查。

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