半导体氟化氢取样系统原理

半导体氟化氢取样系统原理,第1张

原理是利用氟化氢气体,将半导体表面的氧原子进行氧化。根据相关信息查询,分离出氟化物层,这也是一种膜,用来把半导体材料与环境隔离开来,从而保护半导体材料不受外界环境影响,提高其稳定性。

(1) (2分)     sp 3 (1分)

(2)4NH 3 +3F 2  Cu  NF 3 +3NH 4 F(2分)

(3)Al 3+   (1分)   6 (1分) 黄(1分)  激发态的电子从能量较高的轨道跃迁到能量较低的轨道时,以一定波长(可见光区域)光的形式释放能量。(2分)

(1)F2和过量的NH3反应生成NF3和NH4F,反应的方程式为3F2+4NH3
 Cu 
.
 
NF3+3NH4F,NF3中含有3个δ键,且孤电子对数为
5?3
2
=1,则应为sp3杂化,空间构型为三角锥形,

答案为:3F2+4NH3

 Cu 
.
 
NF3+3NH4F;sp3杂化;三角锥形;

(2)由于非金属性N<F,则HF更稳定,故答案为:<;

(3)N3-含有3个原子和22个电子,价电子总数为16,则对应的等电子体有CO2或CS2、N2O等,故答案为:N2O或CO2;

(4)元素A基态原子的核外电子排布式为1s22s22p63s23p64s2,应为Ca元素,由晶胞结构可知Ca2+离子位于晶胞的定点和面心,共含有8×

1
8
+6×
1
2
=4个,F-离子位于体心,共8个,则化学式为CaF2,

故答案为:CaF2;

(5)晶胞平均含有4个Ca2+,8个F-,质量为

312
NA
g,该离子化合协晶体的密度为a g/cm3,则晶胞的体积是
312
aNA
cm3,故答案为:
312
aNA


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