半导体制冷片如何用万用表来测试判断好坏？

半导体制冷片的好坏可以采用万用表测量其电阻，电流或者电压来进行判断，半导体制冷片电阻正常范围为0－0.05欧，半导体制冷片电流正常范围为0－0.09安，半导体制冷片电压正常范围为0－0.1伏。

1、首先需要将万用用笔两只表笔接在半导体制冷片和地线上，分红线和黑线，红线是连接半导体制冷片的正极，黑线是连接半导体制冷片的负极。

2、接下来确定是通过测半导体制冷片交流电流还是半导体制冷片直流电流来验证好坏，是直流电压，则要把档位调到如图直流区，接在测量的线路上。

3、线路是220v的话是选用黑线，如果是测半导体制冷片交流电流，则把档位调至交流电流档区，直流电流和交流电流对应两种不同的档位。

4、将红黑表笔插入排差，万用表读出数值00.4A。有数字显示即为正常的半导体制冷片线路的电流数字，则证明半导体制冷片良好。

扩展资料：

使用注意

1、在使用万用表之前，应先进行“机械调零”，即在没有被测电量时 ，使万用表指针指在零电压或零电流的位置上。

2、在使用万用表过程中，不能用手去接触表笔的金属部分 ，这样一方面可以保证测量的准确，另一方面也可以保证人身安全。

3、在测量某一电量时，不能在测量的同时换档，尤其是在测量高电压或大电流时 ，更应注意。否则，会使万用表毁坏。如需换档，应先断开表笔，换档后再去测量。

参考资料来源：百度百科－万用表

饮水机半导体制冷片好坏判定方法:接上12伏或以下的直流电，即可检测制冷片的好坏，通常红色线接正电压，黑色线接负电压，如果反接的话发热面就变成了致冷面是可逆的，电压越接近额定电压，制冷能力越强。半导体是指一种导电性可受控制，范围可从绝缘体至导体之间的材料。无论从科技或是经济发展的角度来看，半导体的重要性都是非常巨大的。今日大部分的电子产品，如计算机、移动电话或是数字录音机当中的核心单元都和半导体有着极为密切的关连。常见的半导体材料有硅、锗、砷化镓等，而硅更是各种半导体材料中，在商业应用上最具有影响力的一种。

二者在灵敏度和分辨率上稍微有点区别

赛默飞7200ICP灵敏度（Mcps / mgL-1）≤0.007nm

仪器检出限(ngL-1)≥105

分辨率(单位质量分辨率，amu)≤0.007nm

pro的分辨率：≤0.002nm；

赛默飞7200ICP参数：

冷却系统：高效半导体制冷。温度：≤-45℃，启动时间：<3 分钟

光学系统：恒温驱气型中阶梯分光系统

单色器：中阶梯光栅，石英棱镜二维色散系统，高能量

光室：带精密光室恒温38℃±0.1℃，驱氩气或氮气, 驱气量为1L/min.并提供英文说明材料。

波长范围：166-847nm，全波长覆盖，可测P 178.2nm，B 182.6nm。可用波长有55000条，并提供英文说明材料说明。

光学分辨率（FHW）：≤0.007nm 在200 nm处，0.014nm在400nm处，0.021nm在600nm处（分辨率和检出限指标须在相同条件获得），并提供英文证明材料。

焦距≤400mm

赛默飞7200ICPpro参数：

3.3.1检测器：

3.3.1.1带高效半导体制冷的固体CID检测器，在光谱仪波长范围内具有连续像素，能任意选择波长，且具有天然的防溢出功能设计；

3.3.1.2 检测单元：大于4,000,000个检测单元，读取速度≥2MHz；

3.2.1.3像素分辨率：≤0.002nm；

3.3.1.4 检测器制冷系统：为获得最低的检测器暗电流，采用高效三级半导体制冷，

工作温度：≤-45℃，到达工作温度的时间：<3 分钟。

3.3.2 光学系统：恒温驱气型中阶梯分光系统

3.3.2.1单色器：中阶梯光栅和棱镜二维色散系统，高能量，为保证仪器测试的稳定性，光栅和棱镜等内光路部件位置固定不动，在光谱仪全波长范围内一次曝光同时测定所有元素；

3.3.2.2 光室：带精密光室恒温38℃±0.1℃（提供光室温度实时反馈软件截图），可使用氩气或氮气进行光室吹扫，测定<200nm谱线时驱气量<3L/min；

3.3.2.3波长范围：必须包含167-820nm，全波长覆盖，可测Al167.079nm，P178.2nm，B182.6nm,Na818.326nm,提供软件截图；

3.3.2.4光学分辨率（FHW）：As189.042nm半峰宽<0.007nm， Ca393.366nm半峰宽<0.017nm， Ba614.172半峰宽<0.024nm, K766.490nm半峰宽<0.035nm（分辨率和检出限指标须在相同条件获得）；

3.3.2.5 为保证光学系统的稳定性和最佳的光通量，焦距≤300mm。

3.3.3 等离子体：

---