电容怎么测试

检测方法：

1、断路很好判断，就是没有充放电过程，不过对于小容量的电容，因为充放电不明显，最好拿电容档测一下。

2、如果是数字万用表，那就红表笔接电容的正极，如果是指针式万用表，那就是黑表笔接电容的正极，因为容量比较大，所以有个充电过程，这时电阻值会有一个逐渐增大的过程。在这个过程中，直到阻值稳定。耐压比较低，容量比较大的电解电容，稳定后有一个电阻值，这个阻值就可看作漏电值。

3、电容两端电阻接近于零，可视为短路。

4、没有电容档的万用表，或电容档量程不够时，是无法测量电容量的值的。可以用一只好的电容，测量时，看指针，或数值的最小值，来进行比较，确认电容的好坏。在测量时，注意电容要充分放电后进行测量。

拓展资料：

万用表又称为复用表、多用表、三用表、繁用表等，是电力电子等部门不可缺少的测量仪表，一般以测量电压、电流和电阻为主要目的。万用表按显示方式分为指针万用表和数字万用表。是一种多功能、多量程的测量仪表，一般万用表可测量直流电流、直流电压、交流电流、交流电压、电阻和音频电平等，有的还可以测交流电流、电容量、电感量及半导体的一些参数（如β）等。

万用表的基本原理是利用一只灵敏的磁电式直流电流表（微安表）做表头。

当微小电流通过表头，就会有电流指示。但表头不能通过大电流，所以，必须在表头上并联与串联一些电阻进行分流或降压，从而测出电路中的电流、电压和电阻。

参考链接：百度百科—万用表

通过对PN结的C-V测试可以得到PN结的掺杂浓度，通过相关报道的电阻率和掺杂浓度的关系可以计算电阻。要注意的是测试的结构中必须有带电容的结构，比如PN结比如肖特基结比如MOS电容，否则直接测一块掺杂的半导体是无法得到电容的。

P-N 结电容包括势垒电容和扩散电容两部分：C=CT+CD

当结两端的外加电时为负（即n 区为正，p 区接负）时，由于P 区、n 区的少数载流子

很少，负电压的变化并不引起p 区、n 区中电荷有多大的变化，所以扩散电容很小，相对势

垒电容来讲，扩算电容可以忽略。即：

C=CT+CD≈CT

所以，在外加负偏压的条件下测得的P-n 结电容认为是P-n 结势垒电容。

势垒电容CT 与势垒区厚度δ 的关系同平行板电容器一样：

（1）

式中ε是硅的相对介电常数ε=12；ε0 是真空介电常数ε0=8.85×10-2 微微法/厘米；A 是P-n

结的结面积，用cm2 作单位；δ是势垒厚度，用cm2 作单位。

P-n 结势垒区的厚度δ是随外加电压的变化而变化的,它的变化规律与P-n 结两边的杂

质浓度的大小及杂质的分布状况有关。

Ge:ε=16

Q=1.6×10-19 库仑

对于突变结，在经过相关简化计算后有电容公式如下：

 

（2）

这样就可以通过垃替代法来量测电容，其线路图如下图所示。

图中“Ug”为标准高频信号发生器；⊙为视频毫伏表；C 为可变电容；Cx 为待测的P-n结。

测量前首先把可变电容器旋到最大值（此值用C’表示），然后调节讯号频率，使LC 回路

谐振，即“视频毫伏表”指示最大。当接上待测P-n 结电容Cx 时，由于Cx 与可变电容C

并联，因此使谐振回路失去谐振状态，减小可变电容C 到某一值（此值用C’’表示）会师谐

振回路重新谐振。显然，C’-C’’=Cx，其中C’为C 调到最大值时的电容值。

这里需要指出：

1、量时需要满足小讯号条件，由于P-n 结电容与外加电压的关系不是线性的，所以要测量

某一偏压V 下的结电容就应该在这一偏压下加一足够的交流电压。实验中我们家的交流

电压为几mV 到十几mV。

2、扣除分布电容 Cs

我们用上述方法测到的Cx 实际上包括了两部分，一部分是P-n 结电容，另一部分是分

布电容Cs。在测得Cx 后，必须扣除分布电容Cs 才是真正的P-n 结电容。为扣除Cs，取一

个与待测管同一类型的管壳，测量它的电容就是分布电容Cs，于是P-n 结电容CT 为：

CT=Cx-Cs

 

希望可以帮到你呵

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