真空度,表示该容器中,气体的稀薄程度,通常用压力值表示。实际应用中,有绝对真空和相对真空两种说法。
绝对真空,又可以叫做绝对压力,绝压,它是以理论真空为零位,表示比“理论真空”高出多少压力,该值都是正值,值越小,越接近绝对真空,真空度越高;即,值越小,气体越稀薄,真空度越高;通常该值的后面会用abs.作为后缀。 比如:真空度从高到底的顺序是1 mbar abs. >10 mbar abs. >1个 标准大气压。
相对真空,又可以叫做表压,负压,是以大气压作为零位,表示比该零位低多少,用负值表示。该值越大,真空度越高,比如真空度从高到底依次是 -1000 mbar >-500 mbar >0 mbar (大气压)。
通常,国内习惯用相对真空来标识真空度,因为相对真空的测量方法简单,测量仪器普遍(一般的真空表都是相对真空表),大家为了表达方便,会把相对真空前面的负号去掉,比如设备的真空度是0.1MPa,实际是-0.1MPa;再比如,如果我们购买真空表时,一般卖家会问,真空度用的是绝压还是表压,这时要考虑我们自己的需求了,一般情况下我们用的是表压,即相对真空。
半导体器件的生产,除需要超净的环境外,有些工序还必须在真空中进行。
每一半导体器件都包含着许多层各种各样的材料,如果在这些不同的材料层之间混入气体分子,就会破坏器件的电学或光学性能。
比如,当希望在晶体层上再生长一层晶体时(称为外延),底层晶体表面吸附的气体分子,会阻碍上面的原子按照晶格结构进行有序排列,结果在外延层中引入大量缺陷,严重时,甚至长不出晶体,而只能得到原子排列杂乱无章的多晶或非晶体。
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