半导体老化测试时间多长

4-8小时。半导体老化测试时间4-8小时，半导体指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料。老化试验主要是指针对橡胶、塑料产品、电器绝缘材料及其他材料进行的热氧老化试验，或者针对电子零配件、塑化产品的换气老化试验。

DRAM（Dynamic Random Access Memory），即动态随机存取存储器，最为常见的系统内存。DRAM 只能将数据保持很短的时间。为了保持数据，DRAM使用电容存储，所以必须隔一段时间刷新（refresh）一次，如果存储单元没有被刷新，存储的信息就会丢失。 （关机就会丢失数据）

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