半导体封装测试的过程

半导体封装测试的过程,第1张

封装过程为:来自晶圆前道工艺的晶圆通过划片工艺后,被切割为小的晶片(Die),然后将切割好的晶片用胶水贴装到相应的基板(引线框架)架的小岛上,再利用超细的金属(金、锡、铜、铝)导线或者导电性树脂将晶片的接合焊盘(Bond Pad)连接到基板的相应引脚(Lead),并构成所要求的电路;然后再对独立的晶片用塑料外壳加以封装保护,塑封之后,还要进行一系列 *** 作,如后固化(Post Mold Cure)、切筋和成型(Trim&Form)、电镀(Plating)以及打印等工艺。封装完成后进行成品测试,通常经过入检(Incoming)、测试(Test)和包装(Packing)等工序,最后入库出货。典型的封装工艺流程为:划片 装片 键合 塑封 去飞边 电镀 打印 切筋和成型 外观检查 成品测试 包装出货。

一般PCB上的硅片封装,是用到邦定黑(红)胶,固化是120度固化。当然这个固化条件可以达到你的要求100度,但是又要在常温下需易清洗掉?这不是相互矛盾吗?

如果要在已固化的胶再易洗掉,是完全不可能的事,用化胶水也是不可能的,因为还有PCB。

如还有不明白:[email protected]


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