α粒子为带电的重粒子,所以探测这种粒子的常见探测器有:
1.栅网电离室
测量的立体角为2π,适合于大面积样品的测量,特别是弱放射性α样品测量;但装置较复杂、成本高。
2.正比计数器
这种探测器结构简单、使用方便,但能量分辨比电离室差。
3.闪烁探测器
所用的闪烁体一般选用ZnS(Ag)晶体,也可用玻璃闪烁体。
4.半导体探测器
半导体α探测器目前所配用的探测器多为AuSi面垒和SiPIP,以及Si(Li)探测器。之所以得到广泛应用是因它有很高的能量分辨率,对5MeV的α粒子,可小于0.3%,而闪烁谱仪为≥3%(对150keV)。对面垒型半导体α谱仪重要的是选择最佳的工作电压,因为电压太低会使载流子速度变慢,导致能量分辨变差;电压太高,会增大噪声也使能量分辨变差。最佳的工作电压要由实验来确定。
5.固体径迹探测器
使用云母、塑料等一类材料,当α粒子打在这类材料上时,沿路径会产生损伤,经过化学处理后,这些损伤扩大成可在显微镜下观测的空洞;通过测量这些空调达到探测α粒子的目的。
阿尔法粒子是由一些放射性原子的原子核发射的带正电的粒子。
阿尔法粒子是放射性同位素(如镭或钍)自发衰变的产物之一。发射过程,即阿尔法衰变,将一种化学元素转化为另一种化学元素,使原子(或质子)数减少2,原子质量(或核数)减少4。
由于量子隧穿现象,阿尔法衰变是可能的。在α衰变过程中形成的α粒子的动能通常是几个MeV。在与介质原子碰撞时,新形成的α粒子减速,最终附着两个电子,变成一个中性的氦原子。
产生的危害:
α粒子是一种放射性粒子,由两个质子及两个中子组成,并不带任何电子,亦即等同于氦-4的内核,或电离化后的氦-4,He2+。通常具有放射性而原子量较大的化学元素,会透过α衰变放射出α粒子,从而变成较轻的元素,直至该元素稳定为止。
由于α粒子的体积比较大,又带两个正电荷,很容易就可以电离其他物质。因此,它的能量亦散失得较快,穿透能力在众多电离辐射中是最弱的,人类的皮肤或一张纸已能隔阻α粒子。
以上内容参考:百度百科-α粒子
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