氮化镓漏电击穿原理

氮化镓漏电击穿原理,第1张

氮化漏电击穿原理是由于电场密度较大,从而会造成氮化镓半导体器件的漏电以及击穿。进而会损坏氮化镓半导体器件,降低氮化镓半导体器件的可靠性。从源极注入的电子可以经过GaN缓冲层到达漏极,形成漏电通道,过大的缓冲层泄漏电流同样会导致器件提前击穿。

氮化镓有哪些特点?

氮化镓号称第三代半导体核心材料。相对硅而言,氮化镓拥有更宽的带隙,宽带隙也意味着,氮化镓能比硅承受更高的电压,拥有更好的导电能力。简而言之两种材料在相同体积下,氮化镓比硅的效率高出不少。如果氮化镓替换现在所有电子设备,可能会让电子产品的用电量再减少10%或者25%。

可以制造哪些器件?

太远离生活的产品不说,采用氮化镓为材料基础做出的充电器,能够实现更好的功率,带来更小的体积。早期的氮化镓材料被运用到通信、军工领域,随着技术的进步以及人们的需求,氮化镓产品已经走进了我们生活中,在充电器中的应用也逐步布局开来。

氮化镓是目前全球最快功率开关器件之一,并且可以在高速开关的情况下仍保持高效率水平,能够应用于更小的变压器,让充电器可以有效缩小产品尺寸。比如导入USB PD快充参考设计,使目前常见的45W适配器设计可以采用30W或更小的外形设计。

你好,很高兴为你解答:

GaN的晶体结构主要有两种,分别是纤锌矿结构与闪锌矿结构。

GaN是极稳定的化合物,又是坚硬的高熔点材料,熔点约为1700℃,GaN具有高的电离度,在Ⅲ—Ⅴ族化合物中是最高的(0.5或0.43)。在大气压力下,GaN晶体一般是六方纤锌矿结构。它在一个元胞中有4个原子,原子体积大约为GaAs的一半。因为其硬度高,又是一种良好的涂层保护材料。


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