半导体材料使用Tray盘使用魔术带捆扎检测Tray角方向的治具

半导体材料使用Tray盘使用魔术带捆扎检测Tray角方向的治具,第1张

看你这描述

tray盘还需要用魔术带捆扎的 想必是JEDEC tray了吧

Tray角方向一般都是在tray盘左上角 有个约45度的斜角,直接可以目视看到

不知道你还需要用什么额外的治具检测?

是想在自动化设备上料端加装感应sensor吗?

1、增强治具的耐用度

IC测试探针的的设计使得其d簧空间比常规探针的要大,所以能获得更长的寿命。

2、不间断电接触设计

行程超过有效行程(2/3行程)或者一般行程时都能够保持较低的接触阻抗,消除因探针造成的假性开路造成的误判。

3、提高了测试精度

IC测试针因为更加精细,通常直径都是0.58mm以下,总长不超过6毫米,所以能够达到同规格产品更好的精准度。

IC测试冶具通用性高,只需更换颗粒限位框,即可测试尺寸不同的颗粒;采用超短进口双头探针设计,相比同类测试产品,可使IC和PCB之间的数据传输距离更短,从而保证测试结果更稳定,频率更高,DDR3系列最高频率可达2000MHz。http://ic.big-bit.com/


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