静电q_内存溢出

技术

静电防护直接动手，设计与整改相辅相成！

用静电q对插入到磁头的带铜箔的卡片，4KV大概率出现死机。其实低压工作电子产品在实际客户使用过程中面临着频繁的ESD放电危害，本文用一个实验的方式对低压产品在实际ESD测试中出现的故障，进行有力的阐述

美联软通
2022-8-2
41 0 0 0

Error[2]: array_keys() expects parameter 1 to be array, null given, File: /www/wwwroot/outofmemory.cn/tmp/view_template_wqo_wpcom_htm_tag.htm, Line: 137

File: /www/wwwroot/outofmemory.cn/tmp/view_template_wqo_wpcom_htm_tag.htm, Line: 137, array_keys()
File: /www/wwwroot/outofmemory.cn/tmp/route_tag.php, Line: 115, include(/www/wwwroot/outofmemory.cn/tmp/view_template_wqo_wpcom_htm_tag.htm)
File: /www/wwwroot/outofmemory.cn/tmp/index.inc.php, Line: 174, include(/www/wwwroot/outofmemory.cn/tmp/route_tag.php)
File: /www/wwwroot/outofmemory.cn/index.php, Line: 30, include(/www/wwwroot/outofmemory.cn/tmp/index.inc.php)

静电防护直接动手，设计与整改相辅相成！