-
大容量存储器集成电路测试
大容量存储器集成电路的测试系统是科技型中小企业技术创新基金项目,是根据大容量存储器集成电路SDRAM、DDR SDRAM和:flash RAM的发展趋势而研究开发的测试系统。方案的主要内容为测试方法和
-
如何在集成系统中测量温度
随着处理器速度提高并消耗更多功耗,热管理成为所有使用微控制器的器件中的日益重要的问题。由于热管理变得日益重要,所使用的技术变得更复杂和有条件限制。然而,归其根本,热管理归结为测量温度以及驱动如风扇、液
-
北京市启动集成电路测试技术联合实验室
集中本市和中科院系统“优势兵力”的集成电路测试资源、能承接国家重大科技专项的“北京集成电路测试服务产业联合实验室”昨天正式启用了。早在今年初,北京自动测试技术研究所与中国科学院微电子研究所便签订了战略