射频测_内存溢出

技术

IC芯片的晶圆级射频(RF)测试

对于超薄介质，由于存在大的漏电和非线性，通过标准I-V和C-V测试不能直接提取氧化层电容(Cox)。然而，使用高频电路模型则能够精确提取这些参数。随着业界迈向65nm及以下的节点，对于高性能低成本数

biliplus
2022-8-4
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IC芯片的晶圆级射频(RF)测试