摘要：本应用笔记讨论了在线路接口单元(LIU)—Dallas Semiconductor公司的DS3150 ― 应用中，如何测量并改进回波损耗(RL)。对回波损耗的定义、要求、测量以及改进方法进行了论

前言类似CPU等超高速、高频电子组件相继问世，过去经常被忽视的整合问题，例如信号传输波形的优化，最近成为非常重要的课题之一。电子组件动作高速化使得封装上必需面对更多短期内不易获得解答的挑战，因此利用模