测试性设计_内存溢出

技术

SOC的可测试性设计策略

1 引言可测试设计(DFT)是适应集成电路的发展要求所出现的一种技术，主要任务是对电路的结构进行调整，提高电路的可测性，即可控制性和可观察性。按测试结构分，目前比较成熟的技术主要有测试点插入、内部扫描

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2022-8-8
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SOC的可测试性设计策略