电驱测试_内存溢出

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科梁基于eFPGAsim的电机硬件在环测试系统

基于eFPGAsim的电机硬件在环测试系统，是面向电驱HIL测试的高精度FPGA的解决方案，利用最新的eHS （Electric Hardware Solver）技术实现，在获得基于FPGA片上仿真高

dsp管理器
2022-8-15
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科梁基于eFPGAsim的电机硬件在环测试系统