1、打开“控制面板”,在控制面板选项中找到 “Inter GMA Driver”选项点击进入设置界面。
2、切换至“显示”,选择“一般设置”选项卡对屏幕分辨率进行设置。
3、切换至3D选项卡,通过对3D首选项进行设置,可选择显卡的性能特征以及显卡的重点优化部分。
4、切换到“媒体”选项止,选择“颜色增强”项,通过勾选“覆盖应用程序设置”选项卡,然后就可以调整“亮度”、“对比度”、“色调”和“饱和度”。
5、点击“电源”选项卡,在电源计划中选择一种优化电源的设置方案。比如想在节省和使用性能上取得平衡,则选择“平衡”项。
PCB阻抗测试主要使用两种仪器:
基于采样示波器的时域反射计TDR和基于网络分析仪的ENA-TDR
TDR测量步骤:
1.在软件界面里,点击TDR Setup 快捷图标,可以看到TDR/TDT的设置界面。
2.在这个界面里,在Stimulus Mode 选框下可以选择单端Single
Endede,共模Common或者者差分Differential测量模式。选择Differential,并将设置界面里的Diff
TDR显示复选框选中,即可显示差分时域反射的测量波形,用以测量差分阻抗。
3.点击上图左下角的Calibration Wizard
校准向导,开始校准处理。点击Next开始下一步,这一步会显示需要模块的垂直校准,点击NEXT进行模块垂直校准,点击skip会略去模块校准。
4.卸掉夹具和被测件,此时探头和cable链接接头作为参考面,按照提示依次链接短路/50ohm端接件,最后完成校准过程。
5.关闭TDR Stup。
6.在确定被测试件的物理位置区间后,旋转在仪器面板Horizontal处的水平时基旋钮和水平延时,使得屏幕范围内显示为被测件的区间。
7.在旋转着两个旋钮时,在屏幕的下方会显示时基及延时信息。按下仪器屏幕下方Markers先的按钮,在屏幕中出现光标,旋转光标旋钮对应调整测量波形的位置,在TDR测试模式下,有两个光标可以使用。
为确定阻抗不连续点(波形中有突起或凹陷)的位置,以两个光标确定被测件的起点和不连续点的时刻差异,可以根据其与到达被测件最后断面的时间差异的比例推算出来在被测件上发生阻抗不连续点的物理位置。注意光标所测量的时间为反射回来到达仪器接收端的时刻,所以在判断某位置距离入射点的延时时要将读数除以2.
注:PCB阻抗测试相对来说比较麻烦,如果测试设备不会调节和使用的,建议向相关设备供应商求助。
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