坐标测量员的工作职责是什么

坐标测量员要求学习能力强(有二维三维绘图技能基础)，理解空间坐标系以下是我精心收集整理的坐标测量员工作职责，下面我就和大家分享，来欣赏一下吧。

坐标测量员工作职责1

1、对现场进货、出货零件进行三坐标检测，输出检测 报告

2、配合质量工程师对新品零件进行三坐标检测，出具检测报告

3、配合计量管理员对综合检具进行三坐标测量鉴定，出具检测报告

坐标测量员工作职责2

1.负责生产过程中产品首件巡检检验工作

2.负责生产过程中不良品的识别、维护

3.负责测量工具的维护、质量记录的如实填写

4.负责生产过程中工艺纪律的执行、监督和反馈

坐标测量员工作职责3

1、能熟练 *** 作3D测试仪进行零件测量和编程

2、根据产品图纸和数模，制订测量方案。确认测量报告，分析测量结果

3、负责与相关部门沟通测量相关问题，改进测量 方法

4、负责日常产品精密测量及新项目的样件测量

5、负责实验室设备的日常维护，保养及5S工作

6、测量工装夹具方案制定、导入跟进

7、负责检测仪器及设备的校验

8、原材料的来料检验

9、完成部门安排的其他工作

坐标测量员工作职责4

1、负责三坐标测量, 确保测量结果的真实性

2、对产品进行三坐标测量，按时提交给内、外部客户测量报告

3、根据三坐标测量结果分析问题, 并推动相关部门采取纠正预防 措施

4、负责检查三坐标的测量系统以及日常维护以确保测量结果的准确性

5、对工艺改进提供测量支持

6、对质量保证如统计过程控制的数据收集及计算等提供支持。

坐标测量员工作职责5

1、根据相关要求，使用三坐标测量机测量来料部件尺寸及 其它 参数汇总、存档各项质检记录及相关资料。

2、维护三坐标测量机的正常运行并支持计量检验的相关工作编制三坐标检验报告。

3、优化三坐标测量机的测量程序以提高工作效率及时上报批量质量问题。

坐标测量员工作职责6

1、根据检验计划完成当日工作任务

2、根据相关要求，使用关节臂三坐标测量机测量来料部件尺寸及其它参数

3、汇总、存档各项质检记录及相关资料

4、编制三坐标检验报告

5、维护三坐标测量机的正常运行并支持计量检验的相关工作

6、优化三坐标测量机的测量程序以提高工作效率

7、及时上报批量质量问题

8、协助质量经理完成其他质量管理方面的工作

坐标测量员工作职责7

1、主要负责相关产品的三坐标测量，填写检验记录，并生成和归档检验报告

2、负责测量设备(如三坐标、测量仪等)的保养和维护

3、服从上级其它工作安排。

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★ 关于测量员的工作职责

1996年以来，科美在半导体，平板显示器，电子物质，生命科学和化学分析上，研发和提供了独特的，先进的解决方案。科美，作为测量和分析技术市场上的领头和动力，以它突出的表现得到了世界范围的认可。

技术参数：

波长范围 420nm ~ 640nm

厚度测量范围 350 ~ 3

zei小光斑尺寸 1.35, 0.135

目标面积 864X648 / 86.4X64.8

物镜转动架 5X(spot size 20), 50X(spot size 0.2)

测量层 1

固定样台面积 270mm(L) X 240mm(D)

Z轴再现性 ± 1

自动Z装置 Z direction Head Movement

Travel range: 50mm

Max. velocity: 50mm/s

特征

Non-destructive OSP thickness measurement

No sample preparation for fast and easy operation

Available to detect OSP coating on Cu with rough surface conditions

Auto-focusing function

3D contours results

主要特点：

ST4080-OSP（有机可焊性保护膜）专用于测量PCB/PW板的铜铂表面的OSP厚度。作为使用分光反射法的非破坏性光学测量仪，它可提供平均厚度和详细的3D平面轮廓资料，使得实时检测无需任何的样品制备。

由于ST4080-OSP具有测量很小面积与自动聚焦功能，适用于PCB基板表面的实模式。ST4080-OSP基于科美公司的厚度测量技术，而它在半导体，平板显示与其他电子材料行业方面的可靠性得到了证实。

为什么要选择 ST4080-OSP?

ST4080-OSP使用反射测量法提供PCB/PWB表面OSP涂层厚度的非接触和非破坏性实时测量。

ST4080-OSP 无需样品制备，可确保快速和简便 *** 作。

ST4080-OSP测量的光斑尺寸可减小到0.135，这使得它可测量表面粗糙的铜的OSP涂层厚度.

ST4080-OSP 与紫外可见分光计，受迫离子束方法，时序电化学还原分析还有其他的测量方法相比较，它基于更可靠的测量技术。

ST4080-OSP 可获取420nm~640nm范围内的多波长光谱。

ST4080-OSP可提供各点和它们的平均厚度的详细数据，这样可帮助人们更好地控制OSP质量。

ST4080-OSP 通过3D表面形态学将测量程序zei优化。

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