探测器响应非均匀性多参量校正

中科院合肥物质科研团队

在多角度偏振成像仪（DPC）

面阵探测器非均匀性校正方法研究领域

针对DPC探测器非颤键均匀性特点

提出多参量的非均匀性校正方法

实现探测器响应非均匀性多参量校正

校正后的探测器响应呈现出良好线性

DPC利用大视场、多角斗镇度数据

探测气溶胶和云偏振辐射特性

探测器辐射响应非均匀性

影响多角度遥感图像数据的准确性

DPC穿轨100 大视场的偏振数据

融合依赖像面非均匀性平衡校正

非均匀性的校正涉及

探测器、光学镜头、滤光片

和空间杂散光等因素

面阵电荷耦合器件（CCD）

作为DPC完成光电转换的核心部件

其响应非均匀性校正尤为重要

永兴感知 提供定制各种探测器，各种照度、亮度、颜色、色差测量相关滤光片及探头组件。

多角度偏振成像仪探测器非均匀性

体现在高频和低频两个方面

高频差异体现在

相邻像素点间的快速变茄销巧化

低频差异体现在

不同视场区域的整体缓慢变化

研究团队利用探测器综合测试系统

分析了影响非均匀校正的

暗电流、帧转移效应、温度漂移等

引起的光谱响应变化

并提出了多参量的非均匀性校正方法

实现了探测器响应非均匀性多参量校正

校正后的探测器响应亦呈现出良好线性

验证结果表明

多参量的非均匀性校正方法

消除了像面低频不均衡响应差异

和邻域高频响应差异

探测器非均匀性噪声、帧转移效应、

暗电流、温度漂移影响均得到校正

校正后的单帧数据

主要噪声表现为散粒噪声

95%满阱单帧数据的像元响应不一致性

由2.86%降至0.36%

满足多角度探测的需求

基于多参量的非均匀性校正方法

为仪器整机定标校正

和在轨运行提供了数据支撑

并为多角度应用提供有效技术保障

将为后续相关偏振遥感仪器的检测提供技术参考

图1.面阵探测器单帧数据校正前后比对图

图2.面阵探测器非均匀性校正前后数据直方图

% example

t=-pi:0.01:pi%这里t是均匀的。

t=t+rand(1,size(t,2))*0.005%这里t是不均匀的，因为每个搭段值都加了一个随机数。

s=sin(t)%s是非均匀采样序列知此誉扒烂；

figure

plot(t,s)

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