XRD图谱峰的面积表示晶体含量,面积越大,晶相含量越高。峰窄说明晶粒大,可以用谢乐公式算晶粒尺寸。XRD图谱峰高如果是相对背地强度高,表示晶相含量高,跟面积表示晶相含量一致。
XRD图谱峰高如果是A峰相对B峰高很多,两峰的高度比“A/C”相对标准粉末衍射伍郑没图对应峰的高度比要大很多,那么这个材料是A方向择优取向的热重曲线热重分析得到的是程序控制温度下物质质量与温度关系的曲线。
即热重曲线(TG)曲线,横坐标为温度或时间,纵坐标为质量,也可用失重百分数等其它形式表示。由于试样质量变化的实际过程不是在某一温度下同时发生并瞬间完成的,因此热重曲线的形状不呈直角台阶状,而是形成带有过渡和倾斜区段的曲线。
扩展资料:
通过对材料进行XRD,分析其衍射图谱,获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信腔纳息。用于确定晶体结构。其中晶体结构导致入射X射线束衍射到许多特定方向。
通过测量这些衍射光束的角度和强度,晶体学家可以产生晶体内电子密度的三维图像。
根据该电子密度,可以确定晶体中原子的平均位置,丛宏以及它们的化学键和各种其他信息。
X射线是原子内层电子在高速运动电子的轰击下跃迁而产生的光辐射,主要有连续X射线和特征X射线两种。晶体可被用作X光的光栅,这些很大数目的粒子(原子、离子或分子)所产生的相干散射将会发生光的干涉作用。
参考资料来源:百度百科-XRD
xrd 图谱应从以下几点来分析:
1、衍射图谱分析:通过材料分析。
首先在进行 xrd 图谱分析时,可通过材料进行 xrd,然后分析它的一个衍射图谱,从而获取到里面的一个成分问题,材料内部的院子和分子结构以及形态也是可以通袜空枝过 xrd 图亏哗谱的衍射图谱来分析出来的。
2、电子密度分析:密度强弱和角度分析。
电子密度分析需要测量衍射光束的强度和角度,通告敏过可以产生经体内的电子密度的三维图像以及电子的密度,就可以确定出晶体中原子的平均位置,这样就能够找到其化学键以及其他的有用信息了。
3、高峰分析:高峰 AB 峰分析。
针对于高峰分析,需要 xrd 图谱的内容,A 峰比 B 峰高很多的时候,可以通过两峰之间的高度比 A/C 来确定一个相对标准粉末的衍生图对应的峰,这样能够通过分析得到一个程序控制下温度物质质量以及温度关系之间的一个曲线。
4、面积分析:面积大小含量多少分析。
通过 xrd 图谱的面积,能够看到相关的晶体含量。面积越大,晶体含量就越多。在 xrd 图谱中,相对背地强度越高,晶体含量就越高,这与面积表示晶体含量是同一种分析方法。
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