EMIF读写flash的时序是dsp产生的还是个人写的

关于外部FLASH擦写程序，应该确认当前段所属块是否是坏块，如果是，就要跳过；如果不是，再继续执行擦除 *** 作；

如果以上两步都OK，没有写入数据，那么，请确认下，写入函数的时序是否正确，然后再确认读取，读取时序也必须正确。

该装置包括一个片上为8K字节的RAM块和一个外部存储器接口（ emif ）进入

小康芯片数据存储器。该单晶片为8K字节块可以解决在整个第64 K外部数据存储器

地址范围（重叠为8K的界限） 。外部数据存储器地址空间可以映射到

采用片上存储器只，场外晶片记忆体，或两者的结合（地址，最多为8K指示onchip ，

以上为8K指示emif ） 。该emif也可配置为复用或非复用

地址/数据线。

关于c8051f12x和c8051f130 /一日起，在单片机的程序存储器的128 k字节库

快闪记忆体。在1024字节，从地址0x1fc00到0x1ffff均予以保留。关于c8051f132 / 3

该单片机的程序存储器的64 k字节的快闪记忆体。这记忆，可重组成

在系统1024字节部门，并不需要特别的小康芯片编程电压。

对所有设备，也有两个128字节部门地址0x20000以0x200ff ，它可用于

通过软件，为数据存储。见图1.8 ，为单片机系统中的内存映射。

1.3 。 JTAG调试和边界扫描

JTAG边界扫描和调试电路，其中包括提供非侵入性，全速，在电路

调试使用的生产部分安装在终端应用，途经四个引脚JTAG界面。该

JTAG端口，它完全符合的IEEE 1149.1 ，提供全面的边界扫描测试和制造的目的。

Silicon Labs的调试系统支持检查和修改内存和寄存器，断点，

watchpoints ，一叠显示器，并单步。没有额外目标的RAM ，程序存储器，定时器，

或通信渠道。所有的数字和模拟外围设备的功能和

工作的同时，正确调试。所有周边设备（除香港艺术发展局和SMBus ）是停滞的时候

MCU是停产后，在单步，或在断点为了保持对它们的同步。

该c8051f120dk开发套件提供了所有的硬件和软件，并要发展应用

代码和履行在电路调试与c8051f12x或c8051f13x微控制器。

该套件包括一个Windows （ 95或以上版本）的开发环境，一个串行适配器用于连接到

JTAG端口，和一个目标应用板与c8051f120单片机安装。一切必要的沟通

电缆和一个壁挂式电源供应，也提供了开发工具包。利用Silicon Labs

调试环境是一个很大的优势配置，为开发和调试嵌入式应用

相比标准单片机仿真器，它利用机载"冰晶片" ，并针对电缆，并要求该

单片机在应用委员会，以嵌。利用Silicon Labs调试环境不但增加易用性

并保留了高性能的精度，片上模拟外设。

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