1、“扩散炉”顾名思义就是用来扩散的炉子,在晶体硅太阳能电池的生产制造行业中,自然是用于对硅基片的扩散掺杂,制备P-N结结构。至于硅片的热氧化,只不过是扩散掺杂技术工艺的一个中间过程,是为了提高扩散工艺的稳定性和均匀性而设计的。但是一般氧化层厚度极薄,与半导体晶圆工艺制程中的氧化完全不同,因此这里经过热氧化的硅片只是中间的一个状态,一般并不单独作为一个工艺单元。
2、“炉管”即“TUBE”,显然只有管式炉才有炉管只称谓,板式则称为“腔”。除了扩散炉,PECVD也有管式设备,基本上和扩散炉的炉管是同一个概念。
——另外,国产PECVD以管式居多。
尝试着回答一下 我是做12寸的,可能和6寸有所不同。你们的淀积步骤的控压是闭环控制的,对么?设定压力250,上下限分别为250+/-37? 有反复测试过通N2的时候能控压吗? 根据你所描述的现象,可以怀疑一下几点:1.真空泵有问题,抽气能力不稳定。2. 压力控制器有信号干扰,或者是信号线有松动。3. 压力表不稳定,或者是压力表前端管路有堵塞。前道主要是光刻、刻蚀机、清洗机、离子注入、化学机械平坦等。后道主要有打线、Bonder、FCB、BGA植球、检查、测试等。又分为湿制程和干制程。
湿制程主要是由液体参与的流程,如清洗、电镀等。干制程则与之相反,是没有液体的流程。其实半导体制程大部分是干制程。由于对Low-K材料的要求不断提高,仅仅进行单工程开发评估是不够的。为了达到总体最优化,还需要进行综合评估,以解决多步骤的问题。
扩展资料:
这部分工艺流程是为了在 Si 衬底上实现N型和P型场效应晶体管,与之相对应的是后道(back end of line,BEOL)工艺,后道实际上就是建立若干层的导电金属线,不同层金属线之间由柱状金属相连。
新的集成技术在晶圆衬底上也添加了很多新型功能材料,例如:后道(BEOL)的低介电常数(εr <2.4)绝缘材料,它是多孔的能有效降低后道金属线之间的电容。
参考资料来源:百度百科-后道工序
参考资料来源:百度百科-半导体
参考资料来源:百度百科-前道工艺
欢迎分享,转载请注明来源:内存溢出
评论列表(0条)